ic芯片自动化测试

半导体分立器件动态测试参数有哪些？纳米软件半导体测试厂商如何助力测试？上期我们介绍了半导体静态测试参数以及测试静态参数的必要性，今天我们将对半导体分立器件的动态测试参数展开描述。动态参数测试是半导体测试的另一项重要内容，它可以检测半导体在开关过程中的响应时间、电流变化和能量损耗情况。

MCU芯片测试：性能指标测试痛点是什么？ATECLOUD能否解决？MCU芯片测试指标的核心是性能指标，包括处理器性能、存储器容量和读写速度，外设性能等。芯片测试对自动化测试的要求很高，ATECLOUD-IC不仅解决了传统测试方法的问题，而且也可以满足芯片测试的高要求，高效地完成MCU芯片性能指标的测试。