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dcdc失效分析
JXNL@
2 天前
dcdc失效分析
DCDC 芯片 EOS 失效分析:VIN 与 SW 对地短路案例解析
在对一颗 DCDC 电源芯片进行失效分析(FA)时,曲线追踪仪(Curve Tracer)测试发现:由于引脚对引脚测试已发现短路问题,为避免进一步损坏器件,ATE 测试未继续执行。
我是有底线的