芯片缺陷 - 芯片缺陷技术,学习,经验文章

2zcode

6 小时前

基于改进YOLO11算法的芯片微缺陷检测系统(UI界面+数据集+分析界面+处置建议+训练代码)摘要：芯片制造过程中的微小缺陷（5-7像素）检测是质量控制的关键环节，但现有目标检测算法在处理此类微小目标时存在特征信息丢失、检测精度低和漏检率高等问题。针对上述问题，本文提出了一种基于YOLO11的改进检测方法YOLO11-P2-MDH。