核电站仪控与监测系统中抗辐射 MCU 芯片应用研究核电站数字化仪控（DCS）、安全保护、辐射监测、反应堆控制系统等关键设备长期处于γ 射线、中子散射等复合辐射环境，对核心控制芯片的抗辐射稳定性、功能安全性、长期可靠性、实时性提出严苛要求。抗辐射 MCU 作为核电站安全级设备的数字核心，直接关系反应堆安全、人员安全与环境安全。本文系统综述核电站辐射环境特征、仪控系统安全等级、抗辐射 MCU 失效机理、加固设计方法、性能验证标准与典型工程应用，结合国产商业航天级抗辐射 MCU 地面辐照试验数据，重点分析其在反应堆参数监测、安全保护系统、辐射剂量监测、应急巡检