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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 13】FMEDA Update：从 Measured DC 和 Residual FIT 到可追溯安全表格
作者：Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo：D13_fmeda_update 标签：汽车芯片、功能安全、FMEDA、FIT、Diagnostic Coverage、Measured DC、Residual FIT、故障注入、Failure Mode、安全机制、安全指标
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