【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 16】Regression and Trend Tracking：把安全分析变成可迭代工程闭环作者：Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo：D16_regression_and_trend_tracking 标签：汽车芯片、功能安全、安全回归、故障注入回归、Diagnostic Coverage Trend、Residual FIT Trend、FMEDA Delta、Evidence Package、CI、安全指标