分立器件电参数测试

tianshili0291 年前
分立器件iv曲线追踪扫描仪·分立器件电参数测试·晶体管参数测试系统
晶体管参数测试仪系统&能测 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......晶体管参数测试仪系统能测试很多电子元器件的静态直流参数（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on)）。