基于Zynq FPGA的雷龙SD NAND存储芯片性能测试随着嵌入式系统和物联网设备的快速发展，高效可靠的存储解决方案变得越来越重要。雷龙发展推出的SD NAND存储芯片，作为一种基于NAND FLASH和SD控制器集成的创新存储解决方案，以其紧凑的设计、强大的坏块管理以及优秀的纠错能力，在众多应用场景中展现出了显著的优势。为了验证这类存储芯片在实际应用中的表现，本文通过基于Xilinx Zynq 7020 FPGA平台的实验设置，对两种不同容量（4GB和32GB）的SD NAND芯片进行了详细的读写速度及稳定性测试。整个测试不仅包括了对SD卡的基本读写操作及其