技术栈
scan chain
DarrenHChen_EDA
3 小时前
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apr
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placement
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scan chain
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可测性设计
【Backend Flow工程实践 16】从 Scan Chain 到 Placement：测试结构为什么会影响后端布局？
作者：Darren H. Chen 方向：Backend Flow / 后端实现流程 / EDA 工具工程 / DFT 与物理实现协同 demo：LAY-BE-16_scan_chain_placement 标签：Backend Flow、EDA、DFT、Scan Chain、Placement、Physical-Aware Test、可测性设计
IC拓荒者
1 年前
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数字IC后端设计实现之Innovus place报错案例 (IMPSP-9099,9100三种解决方案)
最近吾爱IC社区星球会员问到跑place_opt_design时会报错退出的情况。小编今天把这个错误解决办法分享给大家。主要分享三个方法，大家可以根据自己的实际情况来选择。
我是有底线的