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dft iddq
CodingCos
6 天前
dft iddq
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dft burn-in 测试
【SOC 芯片设计 DFT 学习专栏 -- IDDQ 测试 与 Burn-In 测试】
本文将详细介绍 DFT 中 IDDQ测试 和 burn-in测试模式IDDQ（Quiescent Supply Current）测试是一种基于漏电流监控的故障检测方法，主要用于检测数字电路的制造缺陷。它基于 CMOS 电路的特性，在静态（无信号切换）状态下，其电源电流消耗非常低（通常在微安量级）。如果芯片中存在某些缺陷（如桥接故障、闩锁效应等），会导致明显的漏电流升高，从而被检测到。