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花 满 楼
6 天前
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嵌入式
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国芯科技CCFC3008PCS BIST (内建自测试) 分析总结
CCFC3008PCS 芯片包含三类 BIST 功能，均由 STCU2（Self-Test Control Unit 2） 硬件模块统一管理：
S,D
1 年前
驱动开发
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memory
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功能安全
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iso26262
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MBIST - Memory BIST会对memory进行清零吗?
MBIST（Memory Built-In Self-Test）的核心目标是检测存储器（RAM, ROM, Cache等）的物理缺陷（如单元失效、位线/字线故障、耦合故障等），而不是执行功能性的清零操作。不过，MBIST的测试过程本身会覆盖性地写入特定的测试模式，这可能（但不一定）导致存储器原有数据被覆盖或“清零”。
我是有底线的