是德科技B2912A 双通道精密源测量单元

  • 是德科技B2912A:
  • 类型:双通道 SMU(Source Measure Unit),每通道独立源出 / 测量电压与电流。
  • 架构 :四象限源 / 测量,既可作为电源(源出),也可作为电子负载(吸入),无缝双向工作。
  • 优势:一台替代 "电源 + 万用表",简化测试、提升精度与速度。

二、关键电气规格(每通道)

1. 输出能力
  • 电压:±210 V(直流 / 脉冲)
  • 电流:±3 A(直流);±10.5 A(脉冲)
  • 功率:约 31.8 W
2. 分辨率与精度(6½ 位)
  • 最小源出分辨率 :10 fA(电流)/ 100 nV(电压)
  • 最小测量分辨率 :10 fA / 100 nV,可测皮安级泄漏、纳伏级电压
  • 4 线(Kelvin)测量:消除引线电阻误差,适合低阻 / 微小信号测试

三、主要功能

1. 精密 I‑V 测试(核心)
  • 每通道独立或同步输出电压 / 电流并同步测量,精准获取器件 I‑V 特性(如二极管、MOSFET、电阻、光电元件)。
  • 支持线性 / 对数扫描、阶梯扫描、脉冲扫描,扫描点数可达 2500 步。
2. 任意波形生成(AWG)
  • 内置高分辨率 AWG,最小间隔 10 μs,可生成自定义波形(如方波、三角波、脉冲串)。
  • 脉冲电流最高 10.5 A,脉宽 50 μs~99999.9 s,减少器件自热影响。
3. 高速数字化测量
  • 采样率最高 100,000 点 / 秒,捕捉瞬态响应、脉冲细节与动态特性。
  • 适合快速变化信号(如浪涌、暂态电流、开关特性)。
4. 双通道同步与独立控制
  • 两通道可同步触发、同步扫描,用于差分器件、对管、双端口网络测试。
  • 也可独立设置参数,同时测试两个不同器件,提升效率。
5. 直观操作与显示
  • 4.3 英寸彩色屏,支持数值 / 图形(I‑V 曲线、趋势图)显示。
  • 前面板一键设置、扫描、绘图,无需 PC 即可完成基础测试。

四、接口与软件

  • 标准接口:USB 2.0、LAN(LXI C 类)、GPIB、数字 I/O,适配自动化系统。
  • 软件支持:免费 BenchVue 软件、IVI‑COM 驱动、SCPI 指令集,兼容主流测试平台。

五、典型应用

  • 半导体器件:MOSFET、BJT、二极管、IGBT 的 I‑V、击穿、泄漏电流测试。
  • 无源元件:精密电阻、热敏电阻、传感器的高精度测量。
  • 光电器件:LED、光电二极管、太阳能电池的 IV 与暗电流表征。
  • 材料研究:薄膜、纳米材料、半导体材料的电导率、电阻率测试。
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