是德科技B2912A 双通道精密源测量单元

• 是德科技B2912A：
• 类型：双通道 SMU（Source Measure Unit），每通道独立源出 / 测量电压与电流。
• 架构 ：四象限源 / 测量，既可作为电源（源出），也可作为电子负载（吸入），无缝双向工作。
• 优势：一台替代 "电源 + 万用表"，简化测试、提升精度与速度。

二、关键电气规格（每通道）

1. 输出能力

• 电压：±210 V（直流 / 脉冲）
• 电流：±3 A（直流）；±10.5 A（脉冲）
• 功率：约 31.8 W

2. 分辨率与精度（6½ 位）

• 最小源出分辨率 ：10 fA（电流）/ 100 nV（电压）
• 最小测量分辨率 ：10 fA / 100 nV，可测皮安级泄漏、纳伏级电压
• 4 线（Kelvin）测量：消除引线电阻误差，适合低阻 / 微小信号测试

三、主要功能

1. 精密 I‑V 测试（核心）

• 每通道独立或同步输出电压 / 电流并同步测量，精准获取器件 I‑V 特性（如二极管、MOSFET、电阻、光电元件）。
• 支持线性 / 对数扫描、阶梯扫描、脉冲扫描，扫描点数可达 2500 步。

2. 任意波形生成（AWG）

• 内置高分辨率 AWG，最小间隔 10 μs，可生成自定义波形（如方波、三角波、脉冲串）。
• 脉冲电流最高 10.5 A，脉宽 50 μs～99999.9 s，减少器件自热影响。

3. 高速数字化测量

• 采样率最高 100,000 点 / 秒，捕捉瞬态响应、脉冲细节与动态特性。
• 适合快速变化信号（如浪涌、暂态电流、开关特性）。

4. 双通道同步与独立控制

• 两通道可同步触发、同步扫描，用于差分器件、对管、双端口网络测试。
• 也可独立设置参数，同时测试两个不同器件，提升效率。

5. 直观操作与显示

• 4.3 英寸彩色屏，支持数值 / 图形（I‑V 曲线、趋势图）显示。
• 前面板一键设置、扫描、绘图，无需 PC 即可完成基础测试。

四、接口与软件

• 标准接口：USB 2.0、LAN（LXI C 类）、GPIB、数字 I/O，适配自动化系统。
• 软件支持：免费 BenchVue 软件、IVI‑COM 驱动、SCPI 指令集，兼容主流测试平台。

五、典型应用

• 半导体器件：MOSFET、BJT、二极管、IGBT 的 I‑V、击穿、泄漏电流测试。
• 无源元件：精密电阻、热敏电阻、传感器的高精度测量。
• 光电器件：LED、光电二极管、太阳能电池的 IV 与暗电流表征。
• 材料研究：薄膜、纳米材料、半导体材料的电导率、电阻率测试。