The 6th International Conference on Detection Technology and Intelligence System
第六届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2026）将于2026年12月4-6日在中国昆明举行。DTIS 2026会议旨在为从事检测技术与智能系统领域的专家学者、工程技术人员、技术研发人员提供一个共享科研成果和前沿技术，了解学术发展趋势，拓宽研究思路，加强学术研究和探讨，促进学术成果产业化合作的平台。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者，企业界人士及其他相关人员参会交流。
重要信息
会议官网：
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会议时间：2026年12月4-6日
会议地点：中国-昆明
接受/拒稿通知：投稿后约3-8天出结果
收录检索：EI, Scopus 双检索
会议组委
主讲嘉宾
征稿主题
| 检测技术 | 智能系统 |
|---|---|
| 传感器技术 信号与信息处理 自动检测与转换技术 光学测量技术 光电测量与控制系统 检测系统运行与维护 检测电路基础 光电子技术 光学系统分析 光学无损检测 光电测量仪器 | 机器人传感与数据融合 系统建模与辨识 智能无损检测 智能故障检测与诊断 数据分析与大数据挖掘 计算机控制 事件与数据驱动控制 嵌入式系统与传感器网络 分布式控制系统 面向检测系统的人工智能 自然语言处理 |
论文出版
本会议投稿经过2-3位组委会专家严格审核之后，最终所录用的论文将由Journal of Physics: Conference Series(JPCS)(ISSN:1742-6596)收录出版，出版后提交EI Compendex, Scopus检索。
◆ 会议只接收英文稿件；
◆ 投稿前可通过CrossCheck, Turnitin、iThenticate任一查重 系统进行查重，否则由文章重复率引起的被拒搞将由作者自行承担责任，涉嫌抄袭的论文将不被出版；
◆ 论文应具有学术或实际价值，且未在国内外学术期刊或会议发表过。
参会须知
1、作者参会：一篇录用文章允许一名作者免费参会；
2、口头演讲：申请口头报告，时间为10-15分钟；
3、海报展示：申请海报展示，A1尺寸，彩色打印；
4、听众参会：不投稿仅参会，也可申请口头报告或海报展示。