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大容量芯片
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故障注入测试
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国产FPGA故障注入测试-用户使用指南
采用软件行业的“数据库”类似工作机制，不同类型的bit数据，分别存储在FPGA芯片内部的存储器/寄存器中，本文所指的故障注入测试，特指对直接配置芯片应用硬件电路的CRAM数据。
我是有底线的