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硅农深芯

5 小时前

AEC-Q100中的DPAT与SPAT：保障汽车芯片可靠性的核心统计方法在汽车电子领域，零缺陷是芯片制造的最高追求。作为汽车电子元件的通行证标准，AEC-Q100提出了一套极为严格的认证体系，其中过程平均测试作为其核心统计方法，成为筛选异常元件、保障汽车电子可靠性的关键技术。PAT可分为静态PAT（Static PAT，SPAT）与动态PAT（Dynamic PAT，DPAT），两者共同构建起多层级的质量防护网。