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迷失的小猫
14 天前
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ATPG 介绍与故障分类全解析
从自动测试向量生成原理到故障模型与 Tessent ATPG 流程在芯片生产测试中,ATPG(Automatic Test Pattern Generation,自动测试向量生成)是确保芯片质量的核心环节。它通过自动生成测试向量,在 ATE(自动测试设备)上检测芯片是否存在制造缺陷。本章将从 ATPG 基本概念出发,系统讲解故障模型、故障分类体系、测试覆盖率指标,以及 Tessent ATPG 的完整工作流程。
迷失的小猫
4 个月前
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Wrapper Cells 分析与插入全解析
—— 从 Core Wrapper 概念到 DC/Tessent 实操流程━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
迷失的小猫
4 个月前
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Scan Test Point 插入全解析
—— 提升测试覆盖率与降低 Pattern 数量的关键技术━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
我是有底线的