AS32S601ZIT2型MCU:基于RISC-V架构的抗辐照设计与试验评估摘要随着航天、核能等高辐射环境领域对电子设备可靠性的要求不断提高,抗辐照MCU(微控制单元)在保障系统稳定运行方面的重要性日益凸显。本文聚焦于国科安芯推出的AS32S601ZIT2型MCU,一款基于开源RISC-V指令集架构的商业航天级MCU,深入探讨了其抗辐照设计技术细节与试验评估成果。通过对质子单粒子效应试验、总剂量效应试验以及单粒子效应脉冲激光试验的系统分析,结合对现有抗辐照MCU研究的综述,揭示了该MCU在高辐射环境下的性能表现及其潜在应用价值,为相关领域抗辐照MCU的选型与研发提供了参考。