测试系统

FORCREAT-苏州永创9 天前
半导体·芯片测试·测试系统·cmti·cmti测试系统·半导体功率器件·静态参数测试仪
从实验室到产线:苏州永创-STD2000X如何统一分立器件静态参数测试仪的“语言”?在半导体设计与制造中,静态参数测试是验证器件性能与可靠性的基石。无论是研发阶段的特性分析,还是量产中的质量控制,对器件直流参数、IV曲线、动态响应等关键指标的精准捕捉,都直接影响产品的最终表现。
FORCREAT-苏州永创10 天前
半导体·芯片测试·测试系统·cmti·cmti测试系统·半导体功率器件·静态参数测试仪
探秘半导体“体检中心”:如何为一颗芯片做静态参数测试?—— 走进-苏州永创-STD2000X半导体电性测试系统的技术世界 在现代电子设备中,半导体器件如同人体的“心脏”与“神经”,其性能直接决定了整机的可靠性与效率。而如何对这些微小的“电子器官”进行全面、精准的“体检”,成为了半导体研发、制造与质量控制中不可或缺的一环。今天,我们就来聊聊半导体测试背后的技术与设备——以苏州永创-STD2000X半导体电性测试系统为例,揭开芯片测试的神秘面纱。 一、什么是半导体电性测试? 简单来说,电性测试就是通过施加电压、电流,测量器件的响应,从而判断其是否满足设计规格。测
北京锦正茂科技有限公司2 年前
半导体·芯片测试·晶圆测试·材料·探针台·测试系统
晶圆测试是什么?为什么要进行晶圆测试?晶圆测试是对晶片上的每个晶粒进行针测,在检测头装上以金线制成细如毛发之探针(probe),与晶粒上的接点(pad)接触,测试其电气特性,不合格的晶粒会被标上记号,而后当晶片依晶粒为单位切割成独立的晶粒时,标有记号的不合格晶粒会被洮汰,不再进行下一个制程,以免徒增制造成本。
我是有底线的