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迷失的小猫
15 天前
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ATPG 介绍与故障分类全解析
从自动测试向量生成原理到故障模型与 Tessent ATPG 流程在芯片生产测试中，ATPG（Automatic Test Pattern Generation，自动测试向量生成）是确保芯片质量的核心环节。它通过自动生成测试向量，在 ATE（自动测试设备）上检测芯片是否存在制造缺陷。本章将从 ATPG 基本概念出发，系统讲解故障模型、故障分类体系、测试覆盖率指标，以及 Tessent ATPG 的完整工作流程。
CodingCos
2 年前
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【SOC 芯片设计 DFT 学习专栏 -- DFT OCC 与 ATPG的介绍】
请阅读【嵌入式及芯片开发学必备专栏】请阅读【芯片设计 DFT 学习系列 】 如有侵权，请联系删除转自： 简矽芯学堂 简矽芯学堂 2024年01月18日 09:00 陕西
我是有底线的