在车规、工控等高可靠性电子产品设计中，MTBF（平均无故障时间）是衡量产品生命周期的核心指标。不同类型集成电路（如DRAM、SRAM、处理器、数字逻辑IC）的物理故障率计算模型存在显著差异------旧版本统一归类为"IC"的做法会引入较大预测误差。
为此，25.1版本在可靠性分析模块中新增了IC子类别细分功能，允许工程师为每颗芯片指定准确的子类别，并结合新增的USER_FIT参数，实现更精准的板级MTBF计算。本次分享将带大家了解如何为IC实例设置子类别。以下是关键步骤总结：
核心操作步骤
第一步：打开可靠性分析模块
- 在顶部菜单栏找到 Design Integrity ，点击 Estimate Design MTBF。
第二步：进入MTBF设置界面
- 在弹出的窗口右上角，点击齿轮图标 MTBF Settings。
第三步：定位IC实例列表
- 在左侧导航树中，依次展开 Devices → IC。
第四步：设置子类别
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在中间的 Instance Listing 区域，选中需要细分的芯片。
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点击 Subcategory 列的下拉三角，选择具体子类别（如DRAM、SRAM、Digital IC、Processors等）。
第五步：保存配置
- 完成子类别指定后，系统将结合新增的USER_FIT参数进行更精准的MTBF计算。
通过以上五步，即可完成IC子类别的细分设置，有效提升板级生命周期评估的准确度
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