表征
Scanning electron microscopy (SEM)：扫描电子显微镜，观测微米 / 纳米级表面形貌、晶粒、掺杂颗粒分布
X-ray diffraction (XRD)：X 射线衍射，物相定性、晶体结构表征核心设备
resistivity-temperature**(ρ-T) curve**：电阻率 - 温度曲线，升温 / 降温测试电阻随温度变化的曲线，用于判定Tc
性能指标
transition temperature (Tc)：超导转变温度，超导材料由正常电阻态突变为零电阻的临界温度
wt%：质量百分比（weight percent），材料掺杂配比标准单位
理论密度（2.63 g/cm3）
描绘名词
homogeneous distribution：均匀分布
Spark Plasma Sintering (SPS)：放电等离子烧结，快速致密化烧结工艺
固相烧结工艺（solid state sintering technique）制备的样品致密度偏低