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EDA 中的 DRC检测——并查集优化mincut规则检测随着集成电路工艺的提升，电路导线尺寸越来越小，但是在电路中存在一类导线的线宽相比普通导线会更宽。这类较宽的导线对于上下层连接的通孔数也有更高的要求，甚至对于与这类宽导线连接的细导线，在细导线上连接上下层的通孔数也有更高的要求，这就是芯片制作过程中要求检查的最小通孔数设计规则。