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EML芯片自动化测试:从原理到实践
在半导体行业高速发展的今天,芯片的复杂度和集成度不断提升,对测试技术提出了前所未有的挑战。EML(Electro-Modulated Laser)芯片,作为一种关键的光通信器件,其性能直接影响到高速光模块的传输质量。传统的手动测试方法不仅效率低下、成本高昂,更难以保证测试的一致性和覆盖率。因此,EML芯片的自动化测试已成为提升研发效率、保障产品质量、加速产品上市的关键环节。
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