功能安全

【IF-01】AURIX TC3xx开篇 - 汽车MCU的终极形态英飞凌AURIX™ TC3xx芯片实战系列第一篇。本文作为系列开篇，全面介绍AURIX TC3xx在汽车MCU市场的定位、系统架构全景、多核异构设计、内核特性与功能安全机制，为后续深入学习各子系统模块奠定基础。本文约12000字，建议收藏后阅读。

磐时信息技术

智能汽车软件合规困境：遗产代码、开源集成难题与AI解决方案在智能汽车快速迭代的当下，汽车软件的合规体系正在迎来全方位升级。ASPICE已然成为车企供应链准入的核心考核标准，ISO 26262功能安全规范的落地要求也持续细化、愈发严苛。对于广大汽车软件研发从业者而言，合规文档编制不再是可选工作，而是贯穿项目全流程的刚需工作，也成为当前汽车软件研发中最突出的效率痛点之一。

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 21】Safety Synthesis Readiness：从安全分析证据到安全综合规划作者：Darren H. Chen 方向：Automotive Safe-IC / Functional Safety / EDA Automation / ISO 26262 Closure demo：demos/D21_safety_synthesis_readiness 标签：汽车芯片、功能安全、ISO 26262、Safe-IC、Safety Synthesis、FMEDA、Fault Campaign、EDA Automation、Evidence Closure

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 22】Macro-level Safety Synthesis：实例级冗余、Lockstep 与证据驱动的受保护设计生成作者：Darren H. Chen 方向：Automotive Safe-IC / Functional Safety / EDA Automation / Safety Synthesis demo：D22_macro_level_safety_synthesis 标签：汽车芯片、功能安全、ISO 26262、Safety Synthesis、Lockstep、TMR、Fault Campaign、FMEDA、EDA自动化、证据链闭环

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 16】Regression and Trend Tracking：把安全分析变成可迭代工程闭环作者：Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo：D16_regression_and_trend_tracking 标签：汽车芯片、功能安全、安全回归、故障注入回归、Diagnostic Coverage Trend、Residual FIT Trend、FMEDA Delta、Evidence Package、CI、安全指标

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 19】CI Automation：从手动安全运行到可复现安全回归门禁作者：Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo：D19_ci_automation 标签：汽车芯片、功能安全、CI 自动化、安全回归、故障注入、FMEDA、Diagnostic Coverage、Residual FIT、Evidence Package、Dashboard、工程流程

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 20】发布Demo 包：从 CI 产物到可共享 GitHub Release作者：Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo：D20_public_demo_package 标签：汽车芯片、功能安全、GitHub Release、Evidence Package、故障注入、FMEDA、Diagnostic Coverage、CI 自动化、Dashboard、开源工程实践

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 18】Dashboard and Website Demo：从安全证据包到可交互工程评审门户作者：Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo：D18_dashboard_and_website_demo 标签：汽车芯片、功能安全、安全仪表盘、网站演示、Evidence Package、FMEDA、故障注入、Diagnostic Coverage、Residual FIT、商用工具对比、工程评审

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 13】FMEDA Update：从 Measured DC 和 Residual FIT 到可追溯安全表格作者：Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo：D13_fmeda_update 标签：汽车芯片、功能安全、FMEDA、FIT、Diagnostic Coverage、Measured DC、Residual FIT、故障注入、Failure Mode、安全机制、安全指标

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 15】安全报告生成：从 Evidence Package 到可评审工程报告作者：Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo：D15_safety_report_generation 标签：汽车芯片、功能安全、安全报告、Evidence Package、FMEDA、故障注入、Diagnostic Coverage、Residual FIT、Traceability、Review Report

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 14】Safety Evidence Package：从 FMEDA 表到可评审安全证据包作者：Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo：D14_safety_evidence_package 标签：汽车芯片、功能安全、安全证据、FMEDA、故障注入、Diagnostic Coverage、Residual FIT、Traceability、Review Package、Safety Case

汽车电子安全技术研究社

ISO_PAS 8800_2024 技术深度解读：全球首个道路车辆AI安全标准的核心框架与实施路径2024 年 12 月 1 日，国际标准化组织正式发布 ISO/PAS 8800:2024《道路车辆 —— 安全与人工智能》，这是全球首个专门针对量产道路车辆 AI 系统安全的国际权威标准。该标准填补了传统功能安全 (ISO 26262) 与预期功能安全 (ISO 21448) 在 AI 领域的技术空白，构建了覆盖 AI 系统全生命周期的安全管理体系，将成为未来智能网联汽车全球市场准入的核心技术门槛。

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 10】Failure Mode Library：如何把系统级失效模式落到模块级？作者： Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo： D10_failure_mode_library 标签：汽车芯片功能安全 Failure Mode FMEDA 失效模式库 Safety Mechanism

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 06】Startpoint、Endpoint、Cone：安全分析的结构骨架作者： Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo： D06_sp_ep_cone_extract 标签：汽车芯片功能安全 SP/EP/Cone 结构分析 FIT DC

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 09】Safety Mechanism 不是越多越好：如何选择 Parity/ECC/Lockstep？作者： Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo： D09_sm_selection 标签：汽车芯片功能安全 Safety Mechanism Parity ECC Lockstep DC

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 08】Diagnostic Coverage 是怎么算出来的？作者： Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo： D08_dc_engine 标签：汽车芯片功能安全 Diagnostic Coverage DC Safety Mechanism FMEDA

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 07】Endpoint FIT Contribution：如何找到最值得保护的节点？作者： Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo： D07_ep_contribution 标签：汽车芯片功能安全 FIT Contribution Endpoint 安全机制选择风险排序

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 05】Architectural、RTL、Netlist 三个阶段的安全分析差异作者： Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo： D05_arch_rtl_netlist_flow 标签：汽车芯片功能安全 Architecture RTL Netlist FIT DC

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 02】一个功能安全验证项目需要哪些输入文件？作者： Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo： D02_input_package 标签：汽车芯片功能安全输入文件 Fault List Alarm List VCD FMEDA

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【汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 03】从 Base FIT Rate 开始：为什么安全分析要先做 BFR？作者： Darren H. Chen 方向：汽车芯片功能安全分析与故障注入实践 Demo： D03_base_fit_rate 标签：汽车芯片功能安全 FIT BFR 随机硬件故障可靠性建模