基于RISC-V架构的抗辐照MCU在空间EDFA控制单元中的可靠性分析摘要:掺铒光纤放大器(EDFA)作为光纤通信系统的核心增益器件,其控制单元的可靠性直接影响光信号传输质量与系统稳定性。随着空间光通信技术的快速发展及高可靠性地面应用需求的持续增长,EDFA控制单元面临复杂空间辐照环境下的性能退化风险。本文系统梳理国科安芯AS32S601系列MCU的重离子单粒子试验、质子单粒子效应试验、总剂量效应试验及脉冲激光单粒子效应试验数据,深入分析RISC-V架构抗辐照MCU在EDFA控制单元中的功能适配性与可靠性特征,探讨单粒子锁定、单粒子翻转及总剂量效应的试验评估方法与工程防护策