sd nand

基于Zynq FPGA对雷龙SD NAND的测试雷龙的SD NAND有很多型号，在测试中使用的是CSNP4GCR01-AMW与CSNP32GCR01-AOW。芯片是基于NAND FLASH和 SD控制器实现的SD卡。具有强大的坏块管理和纠错功能，并且在意外掉电的情况下同样能保证数据的安全。

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基于Zynq FPGA对雷龙SD NAND的测试雷龙的SD NAND有很多型号，在测试中使用的是CSNP4GCR01-AMW与CSNP32GCR01-AOW。芯片是基于 NAND FLASH 和 SD控制器实现的SD卡。具有强大的坏块管理和纠错功能，并且在意外掉电的情况下同样能保证数据的安全。

基于Zynq FPGA的雷龙SD NAND存储芯片性能测试随着嵌入式系统和物联网设备的快速发展，高效可靠的存储解决方案变得越来越重要。雷龙发展推出的SD NAND存储芯片，作为一种基于NAND FLASH和SD控制器集成的创新存储解决方案，以其紧凑的设计、强大的坏块管理以及优秀的纠错能力，在众多应用场景中展现出了显著的优势。为了验证这类存储芯片在实际应用中的表现，本文通过基于Xilinx Zynq 7020 FPGA平台的实验设置，对两种不同容量（4GB和32GB）的SD NAND芯片进行了详细的读写速度及稳定性测试。整个测试不仅包括了对SD卡的基本读写操作及其

基于Zynq FPGA对雷龙SD NAND的测试雷龙的 SD NAND 有很多型号，在测试中使用的是 CSNP4GCR01-AMW 与 CSNP32GCR01-AOW。芯片是基于 NAND FLASH 和 SD 控制器实现的 SD 卡。具有强大的坏块管理和纠错功能，并且在意外掉电的情况下同样能保证数据的安全。

基于Zynq FPGA对雷龙SD NAND的测试一、SD NAND特征 1.1 SD卡简介雷龙的SD NAND有很多型号，在测试中使用的是CSNP4GCR01-AMW与CSNP32GCR01-AOW。芯片是基于NAND FLASH和 SD控制器实现的SD卡。具有强大的坏块管理和纠错功能，并且在意外掉电的情况下同样能保证数据的安全。

TF卡（SD NAND）参考设计和使用提示目录电路设计Layout 设计说明贴片注意事项1、参考电路：R1~R5 (10K-100 kΩ)是上拉电阻，当SD NAND处于高阻抗模式时，保护CMD和DAT线免受总线浮动。

ESP32应用教程（2）— SD NAND（记录飞控LOG）文章目录前言1 SD NAND概述2 代码说明3 记录Log本文基于 ESP32 芯片作为主控制器，测试 SD NAND 记录飞控 Log 功能。