【检测技术EI会议推荐】第四届检测技术与智能系统国际学术会议(DTIS 2024)

JPCS出版 | 连续3届稳定EI检索 | 团队投稿可享优惠

第四届检测技术与智能系统国际学术会议(DTIS 2024)

The 4 th International Conference on Detection Technology and Intelligence System

*JPCS 出版、连续3届稳定EI检索,检索历史良好

大会官网:www.icdtis.org

时间:2024年12月13-15日

地点:中国-长沙

主办单位:湖南师范大学

出版检索:提交EI Compendex、Scopus检索

重点征稿主题:检测技术 智能系统 自动测控系统

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