Baumer工业相机堡盟工业相机使用不同内外同轴光源进行检测的不同效果
Baumer工业相机
Baumer工业相机堡盟相机是一种高性能、高质量的工业相机，可用于各种应用场景，如物体检测、计数和识别、运动分析和图像处理。
Baumer的万兆网相机拥有出色的图像处理性能，可以实时传输高分辨率图像。此外，该相机还具有快速数据传输、低功耗、易于集成以及高度可扩展性等特点。
Baumer工业相机由于其性能和质量的优越和稳定，常用于高速同步采集领域，通常使用各种图像算法来提高其捕获的图像的质量。
同轴光源的技术背景
在机器视觉领域，照明方式的选择对于成像质量和检测精度起着关键作用。同轴照明作为一种经典的明场照明打光方案，在针对高反射表面的检测场景中，如检测物体表面的细微裂痕、难以察觉的脏污以及各类复杂表面特征时，有着无可比拟的优势。
Baumer工业相机通过同轴光进行检测功能
实际应用中的成像效果对比，更是直观地展现了内同轴方案的卓越性能。
在外同轴方案中，由于那片 45° 放置的半透半反镜的存在，它不可避免地会为成像光路引入额外的像差。不仅如此，镜片自身表面的面形精度，以及外置同轴光在安装过程中可能出现的任意方向的倾斜，一旦与高倍大 NA 数的镜头搭配使用，成像效果会急剧恶化，严重影响检测精度。
通过实际拍摄效果对比图便能一目了然：左图是将 LED 点光安装在 镜头点光接口处拍摄分辨率板的图像，画面中黑白对比度极高，黑白线对之间的分界清晰锐利，每一个细节都被精准还原。而右图采用外置同轴光打光拍摄的图像，对比度大幅下降，同时伴随着强烈的像散和拖影现象。这样的图像对于依赖高精度图像的机器视觉算法而言，几乎无法满足其分析和识别需求，在实际检测中价值极低。
如下图所示：
总结
综上所述，当您在实际工业检测、科研实验等工况中，确定需要采用同轴照明打光方式时，我们强烈建议您优先考虑选择内置同轴照明光路设计的镜头，并根据具体需求搭配适配的光源。只有这样，才能在有限的空间条件下，充分发挥镜头和光源的性能优势，实现最佳成像效果，高效满足各类高精度检测任务的严苛要求 。
内外同轴光的区别和优势
内外同轴光的区别主要体现在以下几个方面：
- 结构设计 ：
- 外置同轴光：结构较为简单，由垂直于镜头光轴的LED、45°放置的半透半反镜构成。LED发出光束，经半透半反镜反射照亮物面，反射光再透过半透半反镜进入镜头成像 。
- 内置同轴光：以内同轴插头为基础，可安装LED点光或搭配点光纤与灯箱。光线经光纤匀化、镜组准直整形形成柯勒照明，再通过棱镜折射使照明光路与成像光路汇合 。
- 照明效果 ：
- 外置同轴光：由于半透半反镜的存在，自身会引入额外像差，加上镜片面形和安装倾斜等因素，照明均匀度和稳定性欠佳，搭配高倍大NA数镜头时，像差和成像劣化明显。
- 内置同轴光：通过特殊的光路设计和光学元件配合，可实现精准的同轴照明，光线均匀稳定，能为成像提供高质量的照明条件，有效提升成像质量 。
- 成像质量 ：
- 外置同轴光：成像效果较差，如在拍摄分辨率板时，对比度骤降，伴有强烈像散和拖影，对于机器视觉算法可用性低。
- 内置同轴光：成像质量高，黑白对比度高，黑白线对分界清晰锐利，细节还原精准，能满足高精度检测任务需求 。
Baumer工业相机使用不同内外同轴光进行检测的行业应用
以下是一些突出内外同轴光区别的具体应用场景：
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电子芯片检测：在超精密的芯片电路检测环节，内置同轴光的镜头能精准照亮芯片表面极细的线路，成像清晰锐利，微小的线路瑕疵、短路隐患都能被精准识别。而外置同轴光因像差和成像劣化问题，会让芯片线路成像模糊，难以分辨细微缺陷，影响检测精度。
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精密机械零件表面探伤：在航空发动机叶片等精密机械零件的表面探伤中，内置同轴光的镜头能清晰呈现零件表面的细微裂纹、砂眼等缺陷，为零件质量评估提供可靠依据。外置同轴光打光下，零件表面成像会出现拖影、像散，导致裂纹等缺陷难以准确判断，增加误判风险。
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珠宝玉石鉴定：在鉴定钻石等珠宝玉石时，内置同轴光的镜头可以清晰展现玉石内部的纹理结构和钻石表面的切工细节，帮助鉴定师准确判断品质。外置同轴光成像的对比度低，会使玉石纹理和钻石切工细节模糊不清，不利于鉴定工作。