Instrument Systems 将于美国旧金山举办的 SPIE AR|VR|MR 2026 以及 SPIE Photonics West 2026 展会之上，展示其最新研发的工具。届时，该公司将隆重呈现全新的相机系统 LumiTop X30 AR 以及一系列先进的光学测量解决方案。
据该公司透露，此次展会的核心亮点在于推出全新的 LumiTop X30 AR。这是一款用于精准表征 AR 眼镜中近眼显示器（Near - Eye Displays）的先进相机系统。该系统巧妙融合了高空间分辨率与 LumiTop X 概念，借助基于光谱辐射计（Spectroradiometer）的颜色校准技术，能够实现精确的亮度与色彩测量。它可提供有关虚拟图像质量的详尽信息，涵盖清晰度（Sharpness）、对比度（Contrast）、失真（Distortion）以及均匀性（Uniformity）等方面，故而极为适用于研发下一代 AR 光学系统和显示器的 R&D 实验室。
除了发布 LumiTop X30 AR 这一重磅产品之外，该公司还将展示以下系统：
LumiTop X150 高分辨率成像系统：具备高达 600 MPx 的分辨率，可用于精确分析 MicroLED 显示器，包括其像素和子像素结构。
LumiTop AR/VR 测量系统：拥有高达 120° 的视场（Field of View），用于评估 VR 耳机，并且支持可调节的瞳孔尺寸、对焦设置和视角。