四探针

xfilm埃利测量12 天前
测试工具·平面·四探针·薄膜电阻测量
四探针法测电阻：原理讲透 + 常见问题一次说清在半导体、薄膜材料、导电涂层等领域的研发与质检中，电阻率是最常测的参数之一。而只要提到电阻率测试，就绕不开四探针法。它为什么比万用表靠得住？测出来的数据什么时候需要修正？读数异常又该从哪里查起？这篇文章一次讲清。
xfilm埃利测量20 天前
功能测试·测试工具·平面·四探针·薄膜电阻测量
平面显示导电膜方阻精准表征：四探针助力靶材高效反向设计平面显示面板里，钼合金薄膜多做电极或阻挡层，方阻低、耐蚀好是硬要求；宫溢超等人算过，固定元素含量也要试制约28种靶材。
我是有底线的