Ansys Zemax | 在 OpticStudio 中将干涉仪数据附加到光学表面 – 第二部分联系工作人员获取附件表面的干涉仪数据包含不规则度的相关信息，包括旋转对称不规则性 (RSI)、用于确定中空间频率的斜率误差以及其他表面形状制造误差。这些制造误差取决于在球面或非球面上进行的抛光类型，可以是传统的沥青抛光、高速抛光以及磁流变抛光 (MRF)。由于很难使用 Zernike 项来模拟所有这些类型的表面形状变化，因此确定表面误差如何影响整体系统级性能的最佳方法是在 OpticStudio 中将测得的干涉仪数据直接链接到光学表面。