【芯片测试核心解析:故障模型深度揭秘与应用实践】在集成电路制造中,纳米尺度的物理缺陷不可避免。为了确保芯片功能可靠性,故障模型作为测试理论基础和工程实践指南,成为芯片质量保障体系的核心环节。本文将深度解析各类故障模型的原理、检测方法及实际应用。 一、故障模型基础概念与重要性 1. 故障模型的本质作用 故障模型是在晶体管级或门级对物理缺陷的抽象建模,它将千奇百怪的物理缺陷转化为可量化、可检测的逻辑行为。通过故障模型,测试工程师能够: 量化测试质量,评估测试覆盖率 实现测试自动化(ATPG、故障仿真、自动诊断) 降低测试成本,提高