面向星载芯片原子钟的RISC-V架构MCU抗辐照特性研究及可靠性分析摘要: 随着卫星互联网星座建设的加速推进,星载芯片原子钟作为高精度时频基准源,其控制微控制器(MCU)的抗辐照性能成为影响系统长期可靠性的关键因素。本文针对国科安芯AS32S601ZIT2型32位RISC-V架构MCU,基于脉冲激光单粒子效应辐照、100MeV质子单粒子效应辐照及钴-60γ射线总剂量辐照试验,系统评估了该器件在商业航天环境下的抗辐射性能,深入探讨了该型MCU在星载原子钟温控、频率锁定及驯服控制等关键功能模块中的适用性,分析其在低轨卫星互联网星座长期运行中的可靠性表现,为星载时频基准系统的器