IGBT短路测试是指对IGBT(绝缘栅双极型晶体管)在短路情况下的性能进行测试。这种测试通常是通过检测开关管主功率两端的电压来实现的，也称为退饱和检测。当IGBT发生短路时，电流会急剧增加，IGBT的集电极-发射极两端电压VCE会从饱和状态进入线性区。这种测试的目的是为了评估IGBT在短路情况下的性能，以确定其是否符合设计要求和使用安全。
在IGBT的短路测试中，需要使用相应的测试设备和仪器，如可编程直流电源、数字示波器、可编程直流电子负载等。测试时，被测IGBT被固定在测试工装中，通过控制与被测IGBT连接的仪器，可以实现对被测IGBT的各项测试。
需要注意的是，IGBT的短路测试需要严格按照测试标准和程序进行，以确保测试结果的准确性和可靠性。同时，在进行IGBT的短路测试时，需要注意安全问题，如使用适当的测试设备和仪器，避免过载和过热等。
纳米软件的ATECLOUD-IC也可以进行IGBT测试，其优势有：
支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT及分立器件全方位测试
ns级高精度同步测试
人性化操作界面，可快速理解、快速上手
无代码快速搭建测试工步，灵活调整可快速扩展
支持多工位高速并行测试
高效支持表征、功能评估和批量生产评估
已兼容2000+仪器型号，包含是德、泰克、R&S.普源、鼎阳、艾德克斯等厂家，支持设备持续扩展
具备数据洞察及大数据分析功能，为科研生产提供数据支撑
适用于研发/中试/生产芯片全生命周期的应用。
无代码开发，测试应用秒生成
平台兼容各大品牌测量仪器，封装全系列仪器指令，采用无代码编程模式，可灵活并快速组建各类测试项目，同时支持批量测试，提升300%测试效率。
大数据驱动生产力
数据洞察包含精益看板及数据诊断分析两个功能，支持多工位零散测试信息综合智能分析，可轻松自定义数据看板模型，发布至数据大屏集中管控，为企业进行精细化管理提供数据支持，助力企业用数据驱动增长。