半导体高加速应力测试及标准

半导体高加速应力测试及标准

随着电气和电子元件变得越来越密集,现在对零件和材料的高度加速应力测试的需求更大。 高加速应力测试系统(HAST 室)主要设计用于使用设定的施加电压和信号进行偏置测试。

控制功能可选择标准的不饱和控制和湿饱和控制两种模式,以及干湿球温度控制、不饱和控制和湿饱和控制三种模式(M型)。 M型试验箱可用于高压锅试验和不饱和高压锅试验。 虽然体积很大,但该暗室符合国际标准IEC-60068-2-66。

符合半导体各种测试标准

  • IEC 60068-2-66 紧凑型电气和电子元件(主要是非气密密封元件) 不饱和
  • IEC 60749-4 半导体器件 不饱和
  • EIAJ ED-4701 半导体器件 不饱和
  • JESD22-A110E 非气密密封(非空心)器件 不饱和
  • JESD22-A102E 非气密密封 IC 分立器件 饱和
    *推荐使用M型试验箱进行符合上述测试标准的测试。

符合其他测试标准

  • JIS C 60068-2-66 集成电路和半导体器件的铝金属腐蚀 不饱和
  • JPCA-ET08-2002 印刷电路板

HAST Chamber

相关推荐
洞窝技术39 分钟前
增量代码自动Review工具:洞窝在AI上的探索和实践
jenkins·ai编程·测试
littleplayer3 小时前
iOS 单元测试与 UI 测试详解-DeepSeek
前端·单元测试·测试
陈哥聊测试1 天前
开发认为测试不及时,测试吐槽工作量太大?
后端·测试·devops
咖啡配辣条1 天前
MySQL数据库教程03
数据库·测试
郝同学的测开笔记2 天前
SQL查询深度解析:获取上周完课机构统计
mysql·测试
大话性能3 天前
使用枚举(Enum)提升你的python代码质量
测试
公子测试3 天前
Trae版本更新 | 测试小白使用trae完成jira和飞书联动
测试
哔哩哔哩技术3 天前
B站端侧DCDN容灾演练实践
测试·cdn
WebInfra4 天前
🔥 Midscene 重磅更新:支持 AI 驱动的 Android 自动化
android·前端·测试