【芯片测试篇】：SmarTest 8 三温和三压测试程序的搭建

文章目录

[1. 三温测试程序搭建](#1. 三温测试程序搭建)
- [1.1 testprogram](#1.1 testprogram)
- [1.2 DSA](#1.2 DSA)
- [1.3 test table](#1.3 test table)
[2. 三压测试程序搭建](#2. 三压测试程序搭建)
- [2.1 spec](#2.1 spec)
- [2.2 test method](#2.2 test method)
- [2.3 flow](#2.3 flow)

1. 三温测试程序搭建

三温：高温（HT）：105度，低温（LT）：- 40度，常温（NT）：25度。

1.1 testprogram

假设项目名为：MCUProject，在 src/commmon/ 路径下可以建立三个 testprogram 文件代表高温，低温，常温的测试程序，假设命名为testprogram_HT.prog，testprogram_LT.prog，testprogram_NT.prog。

每个 testprogram 包含相同或者不同的 testmethod ，testmethod 中的 setup 函数会产生 *.spec 和 *.seq 文件，所以我们需要将高温，低温，常温产生的 setup 文件分别放到自己的目录下，可以在三份 testprogram 文件中定义一个 String 变量，分别赋不同的值，如下：

高温 testprogram：

java 复制代码

//testprogram_HT.prog 文件
@Options(mutable = Anytime)
var String dsa_path = "HT";

低温 testprogram：

java 复制代码

//testprogram_LT.prog 文件
@Options(mutable = Anytime)
var String dsa_path = "LT";

常温 testprogram：

java 复制代码

//testprogram_NT.prog 文件
@Options(mutable = Anytime)
var String dsa_path = "NT";

@Options(mutable = Anytime) 的作用时：这些变量始终是可变的，并且可以在任何测试流程和测试方法中修改。

1.2 DSA

每个 suite 会 calls 一个 testmethod ，testmethod 中的 setup() 方法中生成设备 setup 的类是 IDeviceSetup ，实例化为：

java 复制代码

IDeviceSetup ds = DeviceSetupFactory.createInstance();

createInstance() 的一种用法是填写两个参数：

prefix：创建此实例所有生成文件的根目录名称。该根目录在 dsa_gen 目录中生成。
dsaGenMode：实例中要使用的 DSA 生成模式。

java 复制代码

public static IDeviceSetup createInstance(String prefix, IDeviceSetup.DSAGenerationMode dsaGenMode);

prefix 这个参数可以填入下面的代码访问得到 testprogram 中变量 dsa_path 的值：

java 复制代码

context.testProgram().variables().getString("dsa_path").get()

dsaGenMode 这个参数填入下面的代码使 DSA 生成的设置应存储在文件中。

java 复制代码

DSAGenerationMode.GENERATE_IN_FILE

最后，代码为：

java 复制代码

IDeviceSetup ds = DeviceSetupFactory.createInstance(context.testProgram().variables().getString("dsa_path").get(), DSAGenerationMode.GENERATE_IN_FILE);

这样 dsa 生成的 setup 文件就会放在这三个目录下：dsa_gen/HT，dsa_gen/LT，dsa_gen/NT，分别代表三温 testprogram 的 setup 文件。

1.3 test table

芯片工作环境温度的不同，工作电压和电流会有些许不同，所以需要设置不同的limit，在 test table 中 limit 部分可以如下设置：

PreBind flow 中运行导入 testtable 的函数：

java 复制代码

com.advantest.itee.testtable.testmethod.TestTableReader

该函数有两个参数可以这么设置：

testTablePath = "common/TestTable.ods"; test table 的路径。
limitCategory = testProgramVariables.getString("dsa_path"); 导入哪些测试类别。

通过给 limitCategory 这个参数赋值：testProgramVariables.getString("dsa_path")，也就是 dsa_path 变量的值，可以让高温 testprogram 依据高温 limit 进行判断，其他两个温度也是一样的。

2. 三压测试程序搭建

三压系数：高压（HV）：1.05，低压（LV）：0.95，常压（NV）：1.0 。

2.1 spec

spec 文件中定义一个电压系数变量，初值设为：1.0 ：

java 复制代码

var Double VoltageCoefficient = 1.0;

如果芯片引脚使用的是仪器：dcVI ，那么在 action vforce 动作时，给 forceValue 这个参数赋的电压值乘上电压系数 VoltageCoefficient；
如果芯片引脚使用的是仪器：digInOut，那么在 set level 时，给 vil，vih，vt，vth，这些参数赋的电压值乘上电压系数 VoltageCoefficient；

2.2 test method

通过 measurement 对象访问 spec 中的变量并重新赋值：

java 复制代码

public IMeasurement measurement;

通过一个 String 变量，接受来自 flow 的字符串来判断是高压，低压，常压修改电压系数：

java 复制代码

public String setVoltage = "";   //HV, LV, NV

在 update() 中通过 measurement 对象更新电压系数：

java 复制代码

@Override
public void update() {
	switch (setVoltage) {
		case "HV":
			measurement.specVariables().setVariable("VoltageCoefficient", 1.05);
			break;
		case "LV":
			measurement.specVariables().setVariable("VoltageCoefficient", 0.95);
			break;
		default:
			measurement.specVariables().setVariable("VoltageCoefficient", 1.0);
			break;
	}
}

2.3 flow

建立一个 flow 文件顺序执行测试项，通过在 flow 建一个变量：

java 复制代码

in voltage = "";   //HV, LV, NV

将该变量赋值三压的字符串："HV", "LV", "NV", 再传递给 suite ：

java 复制代码

setVoltage = voltage;

可实现三压测试。