ICT测试日志 --5--日志记录的格式 下
文章目录
- [ICT测试日志 --5--日志记录的格式 下](#ICT测试日志 --5--日志记录的格式 下)
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- [记录 @D-T：测试数字](#记录 @D-T：测试数字)
- [记录 @INDICT：指控记录](#记录 @INDICT：指控记录)
- [记录 @LIM2：模拟测试的高低限值](#记录 @LIM2：模拟测试的高低限值)
- [记录 @LIM3：标称高/低](#记录 @LIM3：标称高/低)
- [记录 @NETV：网络验证记录](#记录 @NETV：网络验证记录)
- [记录 @NODE：节点列表](#记录 @NODE：节点列表)
- [记录 @PCHK：极性检查测试](#记录 @PCHK：极性检查测试)
- [格式 > 日志记录格式 > 日志记录的描述 > 记录 @PF：pinsfailed](#格式 > 日志记录格式 > 日志记录的描述 > 记录 @PF：pinsfailed)
- [记录 @PIN：引脚列表](#记录 @PIN：引脚列表)
- [记录 @PRB：（部分）探测（故障）的结果](#记录 @PRB：（部分）探测（故障）的结果)
- [记录 @RETEST：指示为重新测试进行日志清除](#记录 @RETEST：指示为重新测试进行日志清除)
- [记录 @RPT：由报告记录的消息](#记录 @RPT：由报告记录的消息)
- [记录 @TJET：TestJet 测试](#记录 @TJET：TestJet 测试)
- [记录 @TS：测试短路](#记录 @TS：测试短路)
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记录 @D-T：测试数字
该记录描述了数字测试的结果。当引脚日志记录生效时，其后紧跟一个包含附加信息的子记录。
表 8-34
@D-T
格式：{@D-T|测试状态|测试子状态|失败向量号|引脚数|测试标识}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 测试状态 | int | 0 | 0 = 通过 |
| 1 = 失败（参见测试子状态以了解原因） | |||
| 5 = CRC 相关失败 | |||
| 7 = 致命错误（测试未完成） | |||
| 8 = 链完整性前或后失败。当故障单元在图 (.X) 文件信息中找不到时发生。这意味着文件包含了用于定位设备、引脚和节点的单元的重要信息。 | |||
| 测试子状态 | int | 0 | 6位二进制值的十进制等价，若事件发生则该位为1，不发生为0。 |
| 这些位含义（从最低位到最高位）是： | |||
| bit 0 失败 | |||
| bit 1 SAFEGUARD 超时 | |||
| bit 2 硬件错误 | |||
| bit 3 暂停 | |||
| bit 4 停止 | |||
| bit 5 过电压 | |||
| 失败向量号 | int | 0 | 哪个向量失败。 |
| 引脚数 | int | 0 | 失败的引脚数量。 |
| 测试标识 | str | "" | 测试的标识（名称）。 |
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生成者：测试语句
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子记录：在记录引脚时以列出故障器件引脚生成 @DPIN。
示例 8-27
{@D-T|1|1|39|3|U18}
Flash ISP 测试的记录方式如同普通数字测试。
记录 @INDICT：指控记录
此记录用于DriveThru。该记录包含设备列表，这些设备在相应测试中被指认为潜在故障或已知故障，并在日志级别设置为指控（或更高级别）时生成。当使用DriveThru时，此记录作为CPROBE (@TJET) 的子记录嵌套。
表 8-35
@INDICT
格式：{@INDICT|方法\设备列表|估计电阻|估计电容|估计电感|估计模型}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 方法 | str | "" | DT表示DriveThru。 |
| 设备列表 | str | 设备列表显示被指控设备的参考标识符。该记录可以包含多个设备名称（用冒号分隔）。更多信息请参见下面的示例，并参考解释日志记录。 | |
| 估计电阻 | fp | 不用于DriveThru。 | |
| 估计电容 | fp | 不用于DriveThru。 | |
| 估计电感 | fp | 不用于DriveThru。 | |
| 估计模型 | str | "" | 不用于DriveThru。 |
- 生成者：测试语句
示例 8-28
{@INDICT|DT\1|r12}
{@INDICT|DT\3|rp6:r2|c412|r22}
记录 @LIM2：模拟测试的高低限值
该记录包含模拟测试的高限和低限。当记录限值时，其后跟随一个包含附加信息的子记录。
表 8-36
@LIM2
格式：{@LIM2|高限|低限}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 高限 | fp | 0 | 允许范围的上限。 |
| 低限 | fp | 0 | 允许范围的下限。 |
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生成者：
- 二极管语句
- 保险丝语句
- 跳线语句
- 测量语句
- nfetr语句
- npn语句
- pfetr语句
- pnp语句
- 开关语句
示例 8-29
{@LIM2|8.666667E+01|2.000000E+00}
记录 @LIM3：标称高/低
该记录由语句记录，该语句可选择性记录组件的标称值及其高低限值。限值根据标称值、正负公差限值以及公差余量语句中生效的任何余量计算得出。如果日志级别指定为"不记录标称高低限值"，则不会生成该记录。
表 8-37
@LIM3
格式：{@LIM3|标称值|高限|负公差}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 标称值 | fp | 0 | 该组件的标称值。 |
| 高限 | fp | 0 | 上限：标称值加上允许的正偏差之和。 |
| 低限 | fp | 0 | 下限：标称值加上允许的负偏差之和。 |
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生成者：
- 电容器语句
- 电感器语句
- 电位器语句
- 电阻器语句
- 齐纳二极管语句
示例 8-30
{@LIM3|22|1.500000E+00|2.000000E+00}
记录 @NETV：网络验证记录
该记录用于验证指定系统的网络链接完整性。
表 8-38
@NETV
格式：{@NETV|日期时间|测试系统|维修系统|来源}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 日期时间 | str | 0 | 验证请求的日期和时间，格式为YYMMDDHHMMSS（datetime$）。 |
| 测试系统 | str | "" | 测试系统的标识符。 |
| 维修系统 | str | "" | 维修系统的标识符。 |
| 来源 | bool | 0 | 当由prsetup生成时，该字段为0，当记录由报警处理时变为1。 |
- 生成者：prsetup程序
示例 8-31
{@NETV|890530102019|alpha|beta|1}
记录 @NODE：节点列表
该记录包含节点列表。它作为一个子记录出现，用于进一步描述其前面的记录。
表 8-39
@NODE
格式：{@NODE\node list}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 节点列表 | str | "" | 列表中的每一项通过节点ID指定一个节点。 |
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生成者：
- 探针语句
- 探针故障语句
示例 8-32
{@NODE\2|Node53|+5Volts}
记录 @PCHK：极性检查测试
该记录描述了极性检查测试的结果。
表 8-40
@PCHK
格式：{@PCHK|测试状态|测试标识}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 测试状态 | int | 00 | 00 表示通过 |
| 01 表示失败 | |||
| 07 表示致命错误（测试未完成） | |||
| 测试标识 | str | "" |
- 生成者：测试语句
示例 8-33
{@PCHK|01|c34}
格式 > 日志记录格式 > 日志记录的描述 > 记录 @PF：pinsfailed
记录 @PF：pinsfailed
该记录包含测试语句的结果。其后跟随一个或多个子记录，这些子记录包含一个引脚列表。
表 8-41
@PF
格式：{@PF|标识符|测试状态|故障引脚总数}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 标识符 | str | "" | 用于识别包含引脚测试源代码文件的可选标识符。来自测试语句中的<文件ID>参数。 |
| 测试状态 | int | 0 | 0 = 测试通过 |
| 1 = 测试失败 | |||
| 故障引脚总数 | int | 0 | 故障引脚的总数。 |
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生成者：测试语句
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子记录：@PIN：包含在测试模式下获取的引脚列表
示例 8-34
{@PF||1|4
{@PIN\4|10472|12235|21612|11302}}
记录 @PIN：引脚列表
该记录包含引脚列表。它作为一个子记录出现，用于进一步描述其前面的记录。
表 8-42
@PIN
格式：{@PIN\引脚列表}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 引脚列表 | str | "" | 列表中的每个项都以BRRCC格式指定一个引脚。 |
- 生成者：pinsfailed语句
示例 8-35
{@PIN\5|11571|20314|12065|20508|11443}
记录 @PRB：（部分）探测（故障）的结果
该记录包含探测和探测故障语句的结果。其后可以跟随子记录，包含故障引脚列表。
表 8-43
@PRB
格式：{@PRB|测试状态|引脚数量|测试标识}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 测试状态 | int | 0 | 0 = 通过；1 = 失败 |
| 引脚数量 | int | 0 | 失败的引脚数量。 |
| 测试标识 | str | "" | 测试标识（失败设备的名称）。 |
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生成者：
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探测语句
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探测故障语句
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子记录：在记录引脚以列出故障设备的引脚时生成@DPIN
示例 8-36
{@PRB|1|2|U23
{@DPIN|\2|Node63||Node22|}}
对于每个测试的设备，将生成一个探测记录。每个探测故障语句生成子记录以报告所有故障节点。
记录 @RETEST：指示为重新测试进行日志清除
该记录的存在表明发生了一次为重新测试进行的日志清除。日志清除用于移除被记录的数据，而这些数据后来因pinsfailed函数为真而被认为是无效的。
表 8-44
@RETEST
格式：{@RETEST|日期时间}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 日期时间 | str | "" | 日志清除重新测试的日期和时间，格式为YYMMDDHHMMSS（datetime$）。 |
- 生成者：为重新测试进行日志清除语句
示例 8-37
{@RETEST|890819184413}
记录 @RPT：由报告记录的消息
该记录包含通过执行任何报告语句生成的文本字符串：报告（ANALOG）、报告（BT-Basic）或报告（SHORTS）------只要报告级别为日志或所有。
表 8-45
@RPT
格式：{@RPT|消息}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 消息 | str | "" | 报告语句中的字符串。 |
- 生成者：报告语句
该记录嵌套在@BLOCK记录内的位置可能有所不同；例如，与特定测试相关的@RPT记录可能出现在与不同测试相关的@BLOCK记录中。这对使用日志数据的标准软件包（如Pushbutton Q-STATS）不会造成问题。
示例 8-38
{@RPT|U91 failed}
记录 @TJET：TestJet 测试
该记录包含 VTEP 或 TestJet 测试的结果。
表 8-46
@TJET
格式：{@TJET|测试状态|引脚数量|测试标识}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 测试状态 | int | 00 | 00 = 通过 |
| 01 = 失败 | |||
| 07 = 致命错误 | |||
| 引脚数量 | int | 0000 | 失败引脚的数量 |
| 测试标识 | str | "" |
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生成者：测试语句
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子记录：在记录引脚以列出故障设备引脚时生成 @DPIN。
示例 8-39
{@TJET|01|0008|u34}
记录 @TS：测试短路
该记录描述了一次短路测试。
表 8-47
@TS
格式：{@TS|测试状态|短路数|开路数|伪短路数|标识符}
| 字段 | 类型 | 默认值 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 测试状态 | int | 0 | 0 通过；1 失败；20 学习模式通过 |
| 短路数 | int | 0 | 有多少节点意外短路至某个短路源节点。 |
| 开路数 | int | 0 | 有多少节点意外开路。 |
| 伪短路数 | int | 0 | 遇到了多少个伪短路。 |
| 标识符 | str | "" | （可选）用于识别包含短路测试源代码文件的标识符。来自测试短路语句中的<文件ID>参数。 |
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生成者：测试短路语句
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子记录：
- 对于每对意外开路的节点，生成@TS-O。
- 对于每个意外短路至短路源节点，生成@TS-S。包含@TS-D子记录以标识源节点短路到的目标节点，或包含@TS-P子记录以标识伪短路。
示例 8-40
{@TS|1|2|1|1|
{@TS-S|2|0|Node12
{@TS-D|Node25|1.678853E+00}
{@TS-D|Node26|2.543216E+00}
}
{@TS-O|Node43|Node14|-1.500000E+00}
{@TS-S|0|1|Node38
{@TS-P|-1.243853E+02}
}}