在 Tessent DFT (TestKompress) 流程中，EDT Bypass Mode（EDT 旁路模式）是一个至关重要的设计特性。它允许测试信号绕过压缩/解压缩逻辑（Decompressor 和 Compactor），将内部众多的短扫描链重新拼接成少数几条较长的扫描链，直接连接到外部芯片引脚（Channels）。
其核心作用和应用场景可以概括为以下几点：
1. 故障诊断与调试 (Debug & Diagnosis)
这是 Bypass 模式最主要的作用。
- 排除压缩逻辑干扰： 当测试出现不匹配（Mismatch）时，压缩逻辑的存在会增加定位失效点的难度。通过 Bypass 模式，测试人员可以像使用传统的"全扫描（Full Scan）"一样直接访问内部寄存器，从而确定问题是出在核心逻辑（Core Logic）还是 EDT 逻辑本身。
- 确定性加载： 压缩模式下，数据经过 LFSR 等解压缩算法处理，无法任意指定每一位扫描链的值。Bypass 模式允许测试向量（Pattern）直接加载到指定的扫描单元，便于手动构造调试向量。
2. 覆盖率补充 (Coverage Top-up)
- 解决"不可编码"故障： EDT 压缩依赖于测试向量的编码能力。某些极深、复杂的逻辑故障可能因为约束过多而无法被压缩算法编码（Encoding Failure）。
- 最后手段： 在压缩模式达到覆盖率瓶颈后，可以切换到 Bypass 模式生成少量的确定性向量（ATPG patterns），以抓取那些在压缩模式下无法覆盖的残留故障。
3. 板级测试与烧录测试 (Board-Level & Burn-in Testing)
- 减少引脚需求： 在板级测试或老化测试（Burn-in）时，测试机的资源可能非常有限。Bypass 模式（特别是 Single Chain Bypass）可以将所有扫描链串成极少数甚至一条长链，仅需通过 TDI/TDO 等少量引脚即可完成基本的逻辑翻转测试。
4. 逻辑结构对比
在硬件实现上，Bypass 模式通过在解压缩器后和压缩器前添加 复用器 (Multiplexers) 来实现：
- EDT ON： 外部 Channel Decompressor 内部短链 Compactor 外部输出。
- EDT Bypass： 外部 Channel Mux 内部拼接长链 Mux 外部输出。
这个视频详细介绍了 Tessent EDT 的基本原理及其在压缩和旁路模式下的不同运作方式。