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Tessent Scan Stream Network (SSN) 在芯片设计DFT中的架构、实现原理及组成1. Tessent SSN 简介现代片上系统 (SoC) 的复杂性日益增加，给面向测试的设计 (DFT) 带来了严峻的挑战。传统的 DFT 方法在面对不断增长的内核数量和日益缩小的特征尺寸时，其局限性日益凸显，导致测试应用出现瓶颈，测试成本也随之上升 1。为了克服这些限制，西门子 EDA 推出了 Tessent Scan Stream Network (SSN)，这是一种先进的解决方案，旨在提供更高效、更具可扩展性的扫描测试方法 2。SSN 被定位为 Tessent TestKompress 中的一项革

【SOC 芯片设计 DFT 学习专栏 -- Scan chain 和 SDFFs及 EDT】在SoC（System on Chip）设计中，DFT（Design for Testability，设计可测试性）是确保芯片可测试性和良品率的关键技术。其中，SDFFs（Scan D Flip-Flops，扫描D触发器）和EDT（Embedded Deterministic Test，嵌入式确定性测试）是DFT中两个重要的组成部分。以下是对它们的详细介绍：

【SOC 芯片设计 DFT 学习专栏 -- RTL 中的信号名和 Netlist 中的信号名差异】本文将介绍 soc 设计中 RTL-to-Netlist 映射及 RTL 中的信号名和 Netlist 中的信号名差异，

【SOC 芯片设计 DFT 学习专栏 -- DFT 为何需要在综合之后插入】本文主要介绍在 soc 设计中 DFT 逻辑为何是在综合之后插入。在 SoC（System on Chip）设计中，DFT（Design for Testability，设计可测性）逻辑通常是在综合之后插入，这种方式的主要原因和优势包括以下几点：

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C# 实现傅里叶变化（DFT）1、DFT函数类2、应用

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DFT和ATE岗位前景薪资对比，手把手教你如何选择岗位？ATE测试和DFT可测性设计，虽然二者都对芯片测试至关重要，但是两个岗位的区别还是很大的。先讲产业环节

后端/DFT/ATPG/PCB/SignOff设计常用工具/操作/流程及一些文件类型目录1.PD/DFT常用工具及流程1.1 FC和ICC21.2 LC (Library compiler)