3070文件格式--10--testorder文件格式详解
文章目录
- 3070文件格式--10--testorder文件格式详解
- 概述
-
- 测试生成命令说明
- [编辑 `testorder` 文件（多路复用系统）](#编辑
testorder文件（多路复用系统）) - [手动编辑 `testorder` 文件](#手动编辑
testorder文件)
- [Testorder 文件语法](#Testorder 文件语法)
- 语句列表
- testplan生成开启/关闭
概述
testorder 文件包含了本电路板所有测试项的清单。每项测试的条目包含测试类型（电阻测试、数字测试、混合信号测试等）、测试名称，以及可选的测试属性（如 permanent （永久性）、nulltest （空测试）、power（电源））。
testorder 文件为自动生成，但你也可以手动创建或编辑该文件。
testorder 文件是以下工具的输入文件：
- 集成程序生成器（IPG）
- IPG 测试顾问
- testplan生成器（TPG）
- 模块引脚分配工具（MPA）
各类测试（如模拟在线测试、数字测试）将按照其在 testorder 文件中的排列顺序执行。测试类别的排列顺序可能会因文件生成方式的不同而有所差异。
在生成testplan之前，你可以编辑 testorder 文件来强制指定测试顺序。例如，若对电阻 R1 的测试会对电容充电，进而导致对电阻 R2 的测试失败，你可以强制 R2 的测试先于 R1 执行。具体操作方法为：编辑 testorder 文件，将电阻 R2 的条目排列在电阻 R1 之前。
你也可以通过编辑 testorder 文件来影响测试生成过程，具体说明如表 3-1 所示。
测试生成命令说明
| 命令 | 描述 |
|---|---|
| IPG | 指定在增量运行过程中，IPG 无需重新生成的测试项。对于标记有 permanent 关键字的测试项，IPG 将不会重新生成。 |
| testplan生成器（TPG） | 指定需要纳入testplan的测试项。可选的"testplan生成开启/关闭"语句，同时可指定 TPG 是否需要生成新的testplan。 |
| IPG 测试顾问 | 提供需要安排生成和编译的测试项清单。对于未在 testorder 文件中列出的测试项，IPG 测试顾问将不会为其安排生成或编译任务。 |
| 模块引脚分配工具（MPA） | 提供需要分配资源的测试项清单。对于未在 testorder 文件中列出的测试项，MPA 将不会为其分配资源。 |
注意
请勿使用
vi等 Shell 编辑器编辑电路板测试文件。此类编辑器无法更新 i3070 程序所需的文件头信息（如时间戳）。应使用 BT-Basic 编辑器编辑电路板测试文件。
编辑 testorder 文件（多路复用系统）
- 在 IPG 测试顾问的编辑 菜单中，选择 查看/编辑 testorder 文件。
- IPG 测试顾问将打开一个 BT-Basic 窗口，并将该文件加载到 BT-Basic 工作区中。
手动编辑 testorder 文件
-
打开一个 BT-Basic 窗口。
-
切换至电路板测试目录（输入命令
msi）。 -
加载
testorder文件，输入以下命令：get "testorder"
Testorder 文件语法
testorder 文件的语法包含两类语句：<statement list>（语句列表）语句和 testplan generation on/off（testplan生成开启/关闭）语句。下文将分别对这两类语句进行说明：
- 语句列表（Statement List）
- testplan生成开启/关闭（Testplan Generation On/Off）
"多电路板版本（Multiple Board Versions）"功能会在 testorder 文件中新增 skip（跳过）语句 和 版本参数，用于控制不同版本印刷电路板（PC board）上器件的测试流程。本章未包含这些语句和参数的相关内容，具体说明请参见《多电路板版本》章节。
总结
testorder核心语法包含"语句列表"和"testplan生成开关"两类核心语句；- 多版本电路板场景下会新增 skip 语句和版本参数，本章不覆盖该部分内容，需参考专属文档。
语句列表
<statement list>（语句列表）语句针对所有测试类型采用统一语法规则，具体说明如下。
<statement list> 语法
<statement list>
<statement list> 可包含： <pins test statement>（引脚测试语句）
<shorts test statement>（短路测试语句）
<analog test statement>（模拟测试语句）
<digital test statement>（数字测试语句）
<boundary-scan test statement>（边界扫描测试语句） ! 需在系统中安装 InterconnectPlus 才能使用该语句
<analog powered test statement>（模拟通电测试语句）
<mixed test statement>（混合测试语句）
<vtep test statement>（VTEP 测试语句）
<polarity check test statement>（极性检测测试语句）
<connect check test statement>（连接检测测试语句） ! 仅适用于多路复用（Mux）系统
<pins test statement> 可写为： test pins <test name>
test pins <test name>; <options>
<shorts test statement> 可写为： test shorts <test name>
test shorts <test name>; <options>
<analog test statement> 可写为： test capacitor <test name>（电容测试）
test capacitor <test name>; <options>
test diode <test name>（二极管测试）
test diode <test name>; <options>
test fet <test name>（场效应管测试）
test fet <test name>; <options>
test fuse <test name>（保险丝测试）
test fuse <test name>; <options>
test inductor <test name>（电感测试）
test inductor <test name>; <options>
test jumper <test name>（跳线测试）
test jumper <test name>; <options>
test potentiometer <test name>（电位器测试）
test potentiometer <test name>; <options>
test resistor <test name>（电阻测试）
test resistor <test name>; <options>
test switch <test name>（开关测试）
test switch <test name>; <options>
test transistor <test name>（晶体管测试）
test transistor <test name>; <options>
test zener <test name>（齐纳二极管测试）
test zener <test name>; <options>
<digital test statement> 可写为： test digital <test name>
test digital <test name>; <options>
<boundary-scan test statement> 可写为：
test scan connect <test name>（扫描连接测试）
test scan connect <test name>; <options>
test scan interconnect <test name>（扫描互连测试）
test scan interconnect <test name>; <options>
test scan disable <test name>（扫描禁用测试）
test scan disable <test name>; <options>
test scan powered shorts <test name>（扫描通电短路测试）
test scan powered shorts <test name>; <options>
test scan silicon nails <test name>（扫描硅钉测试） ! 仅适用于非多路复用（UnMux）系统
test scan silicon nails <test name>; <options> ! 仅适用于非多路复用（UnMux）系统
<analog powered test statement> 可写为：
test analog functional <test name>（模拟功能测试）
test analog functional <test name>; <options>
test analog powered <test name>（模拟通电测试）
test analog powered <test name>; <options>
<mixed test statement> 可写为： test mixed <test name>
test mixed <test name>; <options>
<vtep test statement> 可写为： test vtep <test name>
<polarity check test statement> 可写为： test polarity <test name>
<connect check test statement> 可写为： test connect check <test name>
! 仅适用于多路复用（Mux）系统
<test name>（测试名称）：<string literal>（字符串字面量）
<options>（选项）：<option>（单个选项）
<option>, <option>（多个选项，逗号分隔）
<option>, <option>, . . ., <option>（多个选项，逗号分隔）
<option>（单个选项）： preshorts（预短路）
power（电源）
permanent（永久性）
characterize（特征分析）
comment（注释）
nulltest（空测试）
pretest（预测试）
prepowered（预通电） ! 仅适用于高压齐纳二极管（HVZ）
<mixed option>（混合选项）
<path name>（路径名称）
<mixed option>（混合选项）： digital, analog（数字、模拟）
<path name>（路径名称）：<string literal>（字符串字面量）
<text>（文本）：<string literal>（字符串字面量）示例
test jumper "j1"; preshorts # 测试跳线j1，带预短路选项
test shorts "shorts" # 执行短路测试，测试名称为"shorts"
test capacitor "c1"; characterize # 测试电容c1，带特征分析选项
test capacitor "c2"; characterize, permanent # 测试电容c2，带特征分析、永久性选项
test resistor "r2" # 测试电阻r2
test resistor "r3"; comment # 测试电阻r3，带注释选项
test analog functional "vr1"; power # 测试模拟功能vr1，带电源选项
test digital "u1"; nulltest # 测试数字器件u1，带空测试选项
test digital "u2" # 测试数字器件u2
test connect "u3"; permanent # 测试连接u3，带永久性选项
test analog functional "op_amp"; "special_directory" # 测试模拟功能op_amp，指定路径为special_directory
test mixed "d_to_a"; permanent # 测试混合信号d_to_a，带永久性选项
test zener "vr201"; prepowered # 测试齐纳二极管vr201，带预通电选项总结
<statement list>是testorder文件的核心语法，覆盖引脚、短路、模拟、数字等所有测试类型，每种类型有固定的语句格式；- 所有测试语句支持追加
options选项（如 permanent、nulltest 等），多选项用逗号分隔，部分选项有专属适用场景（如 prepowered 仅用于HVZ）； - 测试名称、路径等均为字符串字面量，需用引号包裹，语法格式严格遵循"test + 测试类型 + 测试名称 + （; 选项）"的结构。
testplan生成开启/关闭
你可以在 testorder 文件中使用 testplan generation on/off（testplan生成开启/关闭）语句，指示 i3070 在线测试软件是否生成testplan。
若你已修改testplan，且以增量模式运行 i3070 在线测试软件时，可能不希望软件覆盖已修改的testplan。此时可使用 testplan generation off 语句，指示软件不生成新的testplan。
如果 testorder 文件中未指定 testplan generation on/off 语句，系统会默认执行 testplan generation on（开启testplan生成）。
testplan 语法
testplan generation on # 开启testplan生成
testplan generation off # 关闭testplan生成示例
testplan generation off # 关闭testplan生成
test analog functional "vr2" # 测试模拟功能vr2
test analog functional "op_amp"; permanent # 测试模拟功能op_amp，带永久性选项
.
.
.
test capacitor "c1" # 测试电容c1
test capacitor "c2"; characterize # 测试电容c2，带特征分析选项
test shorts "shorts" # 执行短路测试
test pins "pins" # 执行引脚测试总结
- testplan generation on/off 语句用于控制 i3070 软件是否生成新的testplan，
off可避免已修改的testplan被覆盖； - 语法仅包含
testplan generation on和testplan generation off两种形式，无该语句时系统默认开启生成； - 该语句需写在
testorder文件中，位置通常在各类测试语句之前。
Example:
testplan generation on
test mixed "d_to_a"; permanent
test mixed "ser_u5"; digital, analog
test scan interconnect "b_scan"
test analog powered "op2"
test analog powered "op_amp"; permanent
test digital "u1"
test digital "u2"
test digital "u3"; nulltest
test analog powered "vr2"; power
test zener "vr1"
test transistor "q1"
test switch "sw1"; preshorts
test resistor "r1"
test resistor "r2"
test resistor "r3"; comment
test potentiometer "rpot1"; preshorts
test jumper "j1"; preshorts
test inductor "l1"
test fet "qf4
test diode "cr1"
test capacitor ".discharge"
test capacitor "c1"
test capacitor "c2"; characterize
test shorts "shorts"
test pins "pins"