DFT笔记27

3.4.3 Deductive Fault Simulation（演绎故障仿真）

演绎故障仿真是一种非常不同于前面两种的仿真方法，它是基于逻辑归因，而不是仿真。

演绎故障仿真非常快，因为它只需要仿真fault-free的电路即可。

下图是个例子，具体的推导过程需要的时候看原文，很好理解：

deductive fault simulation的优点是：用一个test pattern在一次fault list propagation pass中就可以检测到所有故障。

虽然这个例子里面没有提到故障坍塌，但是实际操作中需要先进行故障坍塌再去用这个方法仿真。

用test pattern P2和P3仿真，在输出K能检测到的故障如下面两图，和P1各有不同：

下图是deductive fault simulation的流程图，和前面两个类似：

在上面的例子里面涉及到的gate只是两输入的，但同样的方法也可以用在多输入gate上，有相关公式，作为拓展阅读再看吧。

deductive fault simulation的优缺点：

• 优点：可以同时处理所有故障
• 缺点：
  • 未知的值不好处理，在文献中有详细讨论
  • 只适合用在zero-delay的时序模型中，仿真过程中是不考虑时间信息的
  • 存储管理问题，fault list的大小是不可预测的，可能在算法执行过程中占用大量空间

3.4.4 Concurrent Fault Simulation（同时性的故障仿真）

Concurrent fault simulation：good电路和faulty电路其实不一样的地方只局限在一小个区域内，所以这个仿真只仿真这些区域。他是一种fault-free和faulty电路一起仿真的基于事件的仿真方法。

几个概念：

1. concurrent fault list：每个门都有这么一个list
2. bad gates：里面包括了bad gates，就是bad门的名称和值，和演绎仿真相似
3. local faults：是指当前这个门的值，输入输出值都被标记上

下面还是用电路N举的例子，用到pattern P1，假设A stuck-at one, C stuck-at zero, and J stuck-at zero，但只能检测到A stuck-at one（具体过程需要时候看原文）：

下面紧接着用pattern P2，如下图，在P1的基础上叠加，这次P2能检测出C stuck-at zero：

继续，叠加pattern P3，如下图（不能被检测到的bad gate会被对应门的concurrent fault list删掉，就是画叉的），这次能检测到J stuck-at zero：

concurrent fault simulation的测试流程也是类似，如下图：

直到所有的pattern都被测试过或者所有fault都被检测过。