5.6 FAULT COVERAGE ENHANCEMENT
在pseudo-random testing中，因为random pattern resistant (RP-resistant) 故障限制了故障覆盖率，如果要提升故障覆盖率有以下三种方法：
- test point insertion：额外加入了control points和observation points
- mixed-mode BIST：额外增加了deterministic patterns测试random pattern resistant (RP-resistant)
- hybrid BIST：就是把BIST本身再和外部测试（就是用测试机测试，补充一些deterministic data）结合起来
前两种方式是in-field coverage enhancement（就是测试时的覆盖率提升就已经做好了，叫现场的），最后一种是manufacturing coverage enhancement（就是需要手动提升）。
这三种方法在下面分节细讲。
5.6.1 Test Point Insertion
测试点的插入有两个典型的类型如下图：
- control point：可以被连接到
- a primary input
- an existing scan cell output
- a dedicated scan cell output
- observation point：可以被连接到：
- a primary output through an additional multiplexer
- an existing scan cell input
- a dedicated scan cell input
以下图做一个例子，图a是一个6输入与门，b图是插入一个control point和一个observation point的示意，能提升detection probability，从1/64提升到了7/128：
5.6.1.1 Test Point Placement
因为增加测试点会有面积和性能方面的负担，所以在哪里放置测试点是一件非常重要的事情，要最大化故障覆盖率，但是要用最少的测试点。
有很多技术已经被开发出来了，它们大概可以分为两大类：
- 用故障仿真的Fault simulation guided techniques：需要提前知道要用的TPG，根据给出pattern做故障仿真就能知道哪些故障测不出来要插入测试点。这个方法的缺点就是必须要事先知道要用的TPG，比如有些变化发生在出pattern后，这也会导致故障覆盖率的损失。
- 用可测性测量的Testability measure guided techniques：这项技术的发展用各种文献串起来了（有需要读）
还有一个很重要的需要注意的点就是插入测试点可能会影响性能，如果测试点插入到了关键路径上，那么就会造成delay，影响比较严重。针对这种问题，也有对应的技术Timing-driven test point insertion techniques解决。
5.6.1.2 Control Point Activation
一旦测试点被插入，驱动control points的逻辑也得被同步设计完成，可以让某些节点的值变为一些固定值。在normal operation时，control points不需要激活，在testing时，有两种策略激活control points：
- random activation：用pseudo-random generator实现，它的缺点是control points可能会互相干扰，达不到期望的故障覆盖率
- deterministic activation：会将BIST分为若干段，分段激活control points
5.6.2 Mixed-Mode BIST
test point insertion这个方法的主要缺点就是需要修改CUT，但是在很多情况下这是不希望发生的，比如遇到：
- hard cores
- macros
- hand-crafted designs
- legacy designs
所以这时候就可以考虑mixed-mode BIST这种方法：
- 针对RP-testable faults：用Pseudo-random patterns
- 针对RP-resistant faults：用additional deterministic patterns
下面分节讲三种generating deterministic patterns on-chip的方法。
5.6.2.1 ROM Compression
一个最简单的生成deterministic patterns on-chip的方法就是将它们存在一个read-only memory (ROM)中，这个方法的问题就在于ROM的容量往往不够，所以有很多ROM compression的技术被提出来降低所需ROM的容量。
5.6.2.2 LFSR Reseeding
这项技术不再是存储test patterns，而是存储LFSR seeds用它们来生成测试向量，LFSR不仅可以生成pseudo-random patterns，而且还能通过seeds生成deterministic patterns，因为seeds比pattern需要的存储空间小很多，所以很能节约ROM的空间，有a fixed characteristic (feedback) polynomial的LFSR有个问题就是它不能总是找到那个有效的生成deterministic test patterns的种子，所以有人1995年提出了multiple-polynomial LFSR (MP-LFSR)这个方法，如下图：
还有一些进一步降低存储空间的方法可以查阅文献，他们是用：
- variable-length seeds
- a special ATPG algorithm
- folding counters
- seed encoding
5.6.2.3 Embedding Deterministic Patterns
第三个对于mixed-mode BIST的方法就是在pseudo-random sequence中嵌入deterministic patterns。这个可以参考文献再仔细研究。
5.6.3 Hybrid BIST
这是种手动的故障覆盖率提升的方法，就是将BIST检测不到的故障所需的deterministic test patterns存在测试机里。更复杂的一些hybrid BIST方案可以从文献中得到，比如说将存入的pattern压缩的技术，在第6章中会有详细的描述。