场效应管(FET):结构、原理与特性曲线
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- 一、场效应管概述
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- [1.1 与三极管的本质区别](#1.1 与三极管的本质区别)
- [1.2 三个电极](#1.2 三个电极)
- [1.3 分类总览](#1.3 分类总览)
- [二、N 沟道增强型 MOS 管](#二、N 沟道增强型 MOS 管)
- [三、N 沟道耗尽型 MOS 管](#三、N 沟道耗尽型 MOS 管)
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- [3.1 结构特点](#3.1 结构特点)
- [3.2 工作特点](#3.2 工作特点)
- 四、结型场效应管(JFET)
- [五、MOS 管与结型管的核心对比](#五、MOS 管与结型管的核心对比)
- 六、场效应管符号及特性全谱
- 七、场效应管主要参数
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- [7.1 直流参数](#7.1 直流参数)
- [7.2 交流参数(最重要)](#7.2 交流参数(最重要))
- [7.3 极限参数(选型时必须关注)](#7.3 极限参数(选型时必须关注))
- 八、场效应管放大电路的工作思路
- 九、总结:选型判断流程
📚 上海交通大学《模拟电子技术基础》--- 郑益慧主讲
一、场效应管概述
1.1 与三极管的本质区别
| 对比项 | 双极型三极管(BJT) | 场效应管(FET) |
|---|---|---|
| 导电载流子 | 空穴 + 自由电子(双极) | 单极性(仅一种载流子) |
| 控制方式 | 电流控制( i B i_B iB 控制 i C i_C iC) | 电压控制 ( u G S u_{GS} uGS 控制 i D i_D iD) |
| 输入电阻 | 中等(kΩ级) | 极高 (MOS管 > 10 9 10^9 109 Ω,结型 > 10 7 10^7 107 Ω) |
| 噪声 | 较高 | 极低(无少子扩散噪声) |
| 集成度 | 一般 | 极高(MOS是现代芯片主流) |
| 控制功耗 | 有 i B i_B iB 电流 | 几乎为零(栅极无电流) |
1.2 三个电极
| 电极 | 符号 | 类比三极管 |
|---|---|---|
| 栅极(Gate) | g | 基极 b |
| 漏极(Drain) | d | 集电极 c |
| 源极(Source) | s | 发射极 e |
1.3 分类总览
场效应管(FET)
├── 绝缘栅型(MOSFET,金属-氧化物-半导体)
│ ├── N沟道增强型 ← 最常用,现代数字芯片主流
│ ├── N沟道耗尽型
│ ├── P沟道增强型
│ └── P沟道耗尽型
└── 结型(JFET,Junction FET)
├── N沟道结型
└── P沟道结型
二、N 沟道增强型 MOS 管
2.1 结构

各层构成(M-O-S):
| 层 | 材料 | 作用 |
|---|---|---|
| 金属层(M) | 铝等金属 | 栅极电极 |
| 氧化层(O) | SiO 2 \text{SiO}_2 SiO2 绝缘层(极薄,几纳米) | 将栅极与沟道完全绝缘 |
| 半导体(S) | P型硅衬底 + 两个 N⁺ 注入区 | 沟道区域 |
⚠️ 氧化层极薄 → 等效电容极小 → 少量静电就能产生极高电压击穿氧化层,因此 MOS 管极为娇贵,必须防止静电损坏。
电路符号 :(箭头方向 = 衬底二极管正向,即由P→N)

2.2 沟道形成原理

前提 : u D S = 0 u_{DS} = 0 uDS=0,仅改变 u G S u_{GS} uGS
情况 (a): u G S u_{GS} uGS 较小(未达阈值)
- 栅极正电压 → 氧化层下方 P 衬底中的空穴被排斥
- 形成耗尽层(带负电的受主离子)
- 耗尽层宽度随 u G S u_{GS} uGS 增大而加厚
- 此时 S 和 D 之间没有通路
情况 (b): u G S ≥ U G S ( t h ) u_{GS} \geq U_{GS(th)} uGS≥UGS(th)(开启电压)
- 电场足够强 → 吸引衬底中的少子(自由电子)到达氧化层界面
- 形成N型反型层(电子浓度超过空穴,原本P型区域变成N型行为)
- 反型层连接两个 N⁺ 区 → 导电沟道形成 → S 和 D 可以导通
关键阈值:开启电压 U G S ( t h ) ( N沟道 > 0 ) \boxed{\text{关键阈值:开启电压 } U_{GS(th)} \quad (\text{N沟道} > 0)} 关键阈值:开启电压 UGS(th)(N沟道>0)
💡 物理比喻:栅极正电压好比"磁铁",把沟道区域里的自由电子吸引过来聚集,形成一条电子"走廊",源漏极之间才能通电。
2.3 u D S u_{DS} uDS 对沟道和 i D i_D iD 的影响

固定 u G S > U G S ( t h ) u_{GS} > U_{GS(th)} uGS>UGS(th),增大 u D S u_{DS} uDS:
| 状态 | 条件 | 沟道形状 | i D i_D iD 特性 | 区域名称 |
|---|---|---|---|---|
| ( a ) | u D S u_{DS} uDS 很小 | 均匀,矩形 | 近似线性 i D ∝ u D S i_D \propto u_{DS} iD∝uDS | 可变电阻区 |
| ( b ) | u D S = u G S − U G S ( t h ) u_{DS} = u_{GS} - U_{GS(th)} uDS=uGS−UGS(th) | D端变窄,预夹断 | i D i_D iD 增长趋缓 | 预夹断点 |
| ( c ) | u D S > u G S − U G S ( t h ) u_{DS} > u_{GS} - U_{GS(th)} uDS>uGS−UGS(th) | D端夹断,P形沟道 | i D i_D iD 几乎不变 | 恒流区(饱和区) |
预夹断的物理解释:
u_GD = u_GS - u_DS
当 u_DS 增大 → u_GD 减小
当 u_GD < U_GS(th) → D端附近的反型层消失 → 预夹断
→ 再增大 u_DS,夹断点向 S 端移动,但 i_D 不再增大
💡 预夹断后,多出的 u D S u_{DS} uDS 几乎全部降落在夹断区(作为加速电场), i D i_D iD 保持基本恒定------这就是"恒流区"的由来。
2.4 N 沟道增强型 MOS 管特性曲线
转移特性
i D = f ( u G S ) ∣ u D S = 常数(恒流区) i_D = f(u_{GS})\big|{u{DS}=\text{常数(恒流区)}} iD=f(uGS) uDS=常数(恒流区)

恒流区电流方程:
i D = I D O ( u G S U G S ( t h ) − 1 ) 2 \boxed{i_D = I_{DO}\left(\frac{u_{GS}}{U_{GS(th)}} - 1\right)^2} iD=IDO(UGS(th)uGS−1)2
其中 I D O I_{DO} IDO 为 u G S = 2 U G S ( t h ) u_{GS} = 2U_{GS(th)} uGS=2UGS(th) 时对应的 i D i_D iD 值(工厂给出的标定点)。
输出特性
i D = f ( u D S ) ∣ u G S = 常数 i_D = f(u_{DS})\big|{u{GS}=\text{常数}} iD=f(uDS) uGS=常数

| 区域 | 条件 | 特点 | 工程用途 |
|---|---|---|---|
| 夹断区 | u G S ≤ U G S ( t h ) u_{GS} \leq U_{GS(th)} uGS≤UGS(th) | i D ≈ 0 i_D \approx 0 iD≈0 | 开关"断开" |
| 可变电阻区 | u D S < u G S − U G S ( t h ) u_{DS} < u_{GS} - U_{GS(th)} uDS<uGS−UGS(th) | i D ∝ u D S i_D \propto u_{DS} iD∝uDS, R D S R_{DS} RDS 受 u G S u_{GS} uGS 控制 | 压控电阻 |
| 恒流区 | u D S ≥ u G S − U G S ( t h ) u_{DS} \geq u_{GS} - U_{GS(th)} uDS≥uGS−UGS(th) | i D i_D iD 只与 u G S u_{GS} uGS 有关 | 放大功能 |
三、N 沟道耗尽型 MOS 管
3.1 结构特点
制造时即通过离子注入 在沟道区域预先注入了 N 型杂质,形成天生的 N 沟道。

3.2 工作特点
| 参数 | 增强型 | 耗尽型 |
|---|---|---|
| 天生沟道 | 无(需要 u G S u_{GS} uGS "开启") | 有(天生导通) |
| 开启/夹断电压 | U G S ( t h ) > 0 U_{GS(th)} > 0 UGS(th)>0(开启) | U G S ( o f f ) < 0 U_{GS(off)} < 0 UGS(off)<0(夹断) |
| u G S u_{GS} uGS 工作范围 | 只能正向( u G S > 0 u_{GS} > 0 uGS>0) | 正负均可 |
| u G S = 0 u_{GS} = 0 uGS=0 时 | 截止(无沟道) | 有 i D = I D S S i_D = I_{DSS} iD=IDSS(漏极饱和电流) |
恒流区电流方程(耗尽型):
i D = I D S S ( 1 − u G S U G S ( o f f ) ) 2 \boxed{i_D = I_{DSS}\left(1 - \frac{u_{GS}}{U_{GS(off)}}\right)^2} iD=IDSS(1−UGS(off)uGS)2
- u G S = 0 u_{GS} = 0 uGS=0: i D = I D S S i_D = I_{DSS} iD=IDSS(最大饱和漏极电流)
- u G S = U G S ( o f f ) u_{GS} = U_{GS(off)} uGS=UGS(off): i D = 0 i_D = 0 iD=0(夹断)
- u G S > 0 u_{GS} > 0 uGS>0: i D > I D S S i_D > I_{DSS} iD>IDSS(进一步增大,但受限)
电路符号 ( b ) :与增强型相似,但中间的竖线改为实线(表示天生有沟道)。
四、结型场效应管(JFET)
4.1 结构

关键结构特点:
- 中间:N型材料作为导电沟道
- 两侧:高浓度 P⁺ 型区域夹住沟道,与 N 沟道形成两个 PN 结
- G 极连接两侧 P⁺ 区,通过 PN 结的耗尽层物理夹窄沟道
💡 与 MOS 管的根本区别 :MOS 管靠电场 (静电感应)在氧化层下方诱导反型层;结型管靠物理上的 PN 结耗尽层宽度变化来调节沟道宽窄。
4.2 工作原理

前提 : U G S ( o f f ) < u G S < 0 U_{GS(off)} < u_{GS} < 0 UGS(off)<uGS<0(对 N 沟道), u D S > 0 u_{DS} > 0 uDS>0
N 沟道 JFET 必须对栅极加负压(反偏 PN 结):
| u G S u_{GS} uGS | PN结状态 | 耗尽层 | 沟道宽度 | i D i_D iD |
|---|---|---|---|---|
| u G S = 0 u_{GS} = 0 uGS=0 | 零偏 | 较窄 | 最宽 | 最大 I D S S I_{DSS} IDSS |
| u G S u_{GS} uGS 负值增大 | 反偏 | 变宽 | 变窄 | 减小 |
| u G S = U G S ( o f f ) u_{GS} = U_{GS(off)} uGS=UGS(off) | 强反偏 | 完全夹断沟道 | = 0 | = 0 |
u D S u_{DS} uDS 增大对沟道的影响:
(a):u_DS 较小 → 沟道均匀 → 可变电阻区
(b):u_DS 增大 → D端PN结更反偏 → D端沟道变窄 → 预夹断
(c):u_DS > |u_GS - U_GS(off)| → 预夹断后进入恒流区
⚠️ JFET 最重要的限制 :N 沟道 JFET 的 u G S u_{GS} uGS 绝对不能为正值 !
一旦 u G S > 0 u_{GS} > 0 uGS>0 → PN 结正向导通 → G 极有大电流 → 管子损坏(失去场效应管特性)。
4.3 JFET 特性曲线
转移特性
i D = I D S S ( 1 − u G S U G S ( o f f ) ) 2 i_D = I_{DSS}\left(1 - \frac{u_{GS}}{U_{GS(off)}}\right)^2 iD=IDSS(1−UGS(off)uGS)2

- 从 u G S = U G S ( o f f ) u_{GS} = U_{GS(off)} uGS=UGS(off)(夹断点)到 u G S = 0 u_{GS} = 0 uGS=0, i D i_D iD 从 0 增大到 I D S S I_{DSS} IDSS
- 全部在负值区域(N 沟道)
- 方程与耗尽型 MOS 管完全相同,只需把 IDO 换成 IDSS
输出特性

击穿区 : u D S u_{DS} uDS 过大 → D端 PN 结反向击穿 → i D i_D iD 急剧上升 → 管子损坏。
五、MOS 管与结型管的核心对比
| 特性 | 增强型 MOS | 耗尽型 MOS | 结型 JFET |
|---|---|---|---|
| 天生沟道 | 无 | 有 | 有 |
| u G S = 0 u_{GS} = 0 uGS=0 时 | 截止 | 导通( I D S S I_{DSS} IDSS) | 导通( I D S S I_{DSS} IDSS) |
| u G S u_{GS} uGS 范围 | 只正 | 正负均可 | 只负(N沟) |
| 控制参数 | U G S ( t h ) U_{GS(th)} UGS(th)(开启电压) | U G S ( o f f ) U_{GS(off)} UGS(off)(夹断电压) | U G S ( o f f ) U_{GS(off)} UGS(off)(夹断电压) |
| 输入电阻 | > 10 9 Ω > 10^9\,\Omega >109Ω(几乎无限) | > 10 9 Ω > 10^9\,\Omega >109Ω | 10 7 ∼ 10 8 Ω 10^7 \sim 10^8\,\Omega 107∼108Ω |
| 静电敏感 | 极易损坏(SiO₂ 极薄) | 极易损坏 | 相对耐用 |
| 使用场合 | 现代芯片主流 | 低噪声放大 | 低噪声、测量仪器 |
六、场效应管符号及特性全谱

六种类型的符号识别规律:
| 特征 | 判断方式 |
|---|---|
| 沟道类型(N/P) | N沟道: i D i_D iD 方向向下(正向);P沟道: i D i_D iD 方向向上(负向) |
| 增强/耗尽 | 增强型:转移特性从 u G S ( t h ) u_{GS(th)} uGS(th) 开始;耗尽型:从负值一直延伸到正值 |
| MOS/结型 | 结型: u G S u_{GS} uGS 不能跨越零点;MOS耗尽型: u G S u_{GS} uGS 可正可负 |
快速辨别口诀:
转移特性跨越零?
├── 否(全正或全负)→ 结型管(JFET)
│ ├── u_GS 全负 → N沟道结型
│ └── u_GS 全正 → P沟道结型
└── 是(可正可负)→ 耗尽型 MOS 管
├── i_D 正 → N沟道耗尽型
└── i_D 负 → P沟道耗尽型
转移特性从某个阈值才开始?→ 增强型 MOS 管
├── u_GS > 0 开始,i_D 正 → N沟道增强型
└── u_GS < 0 开始,i_D 负 → P沟道增强型
七、场效应管主要参数
7.1 直流参数
| 参数 | 符号 | 适用管型 | 说明 |
|---|---|---|---|
| 开启电压 | U G S ( t h ) U_{GS(th)} UGS(th) | 增强型 MOS | u G S u_{GS} uGS 必须超过此值才能导通 |
| 夹断电压 | U G S ( o f f ) U_{GS(off)} UGS(off) | 耗尽型、结型 | u G S u_{GS} uGS 达到此值沟道完全夹断 |
| 饱和漏极电流 | I D S S I_{DSS} IDSS | 耗尽型、结型 | u G S = 0 u_{GS}=0 uGS=0 时的漏极饱和电流 |
| 直流输入电阻 | R G S R_{GS} RGS | 全部 | MOS管 > 10 9 Ω > 10^9\,\Omega >109Ω,结型 > 10 7 Ω > 10^7\,\Omega >107Ω |
7.2 交流参数(最重要)
跨导 g m g_m gm(低频跨导):
g m = Δ i D Δ u G S ∣ u D S = 常数 \boxed{g_m = \frac{\Delta i_D}{\Delta u_{GS}}\bigg|{u{DS}=\text{常数}}} gm=ΔuGSΔiD uDS=常数
- 即转移特性曲线在工作点处的切线斜率
- 单位:mA/V 或 mS(毫西门子)
- 类比三极管的 β \beta β: g m g_m gm 越大,电压控制电流的能力越强
- 思路一致:直流找工作点 → 用切线斜率分析交流响应
极间电容:各极之间存在皮法(pF)级的分布电容,高频时不可忽略(等效为短路,影响高频性能)。
7.3 极限参数(选型时必须关注)
- 最大漏极电流 I D M I_{DM} IDM
- 栅-源击穿电压 U ( B R ) G S U_{(BR)GS} U(BR)GS(MOS管栅氧化层极易击穿!)
- 最大耗散功率 P D M P_{DM} PDM
八、场效应管放大电路的工作思路
与三极管放大相比,思路完全相同,只是控制量变了:
| 三极管(BJT) | 场效应管(FET) | |
|---|---|---|
| 工作区 | 放大区(发射结正偏,集电结反偏) | 恒流区 ( u D S u_{DS} uDS 足够大) |
| 控制量 | i B i_B iB 控制 i C i_C iC | u G S u_{GS} uGS 控制 i D i_D iD |
| 直流作用 | V B B V_{BB} VBB 建立工作点 I B I_B IB、 I C I_C IC | V G G V_{GG} VGG 建立工作点 U G S U_{GS} UGS、 I D I_D ID |
| 交流信号 | 叠加在 i B i_B iB 上 → 引起 Δ i C \Delta i_C ΔiC | 叠加在 u G S u_{GS} uGS 上 → 引起 Δ i D \Delta i_D ΔiD |
| 能量来源 | V C C V_{CC} VCC 提供 i C i_C iC 的功率 | V D D V_{DD} VDD 提供 i D i_D iD 的功率 |
💡 放大的根本原则不变:小信号控制大能量,大能量来自直流电源,三极管和场效应管只是"开关机构"。
实现放大的必要步骤:
1. 加直流偏置 → 让 FET 工作在恒流区(建立静态工作点)
2. 叠加小交流信号 → 让 u_GS 在工作点附近摆动
3. u_GS 摆动 → i_D 跟随变化(由转移特性决定)
4. i_D 变化 → 在漏极负载电阻 R_D 上产生放大的电压输出
5. 信号同形但幅度放大 → 完成放大
九、总结:选型判断流程
需要放大 or 开关功能
│
├── 需要极高输入阻抗?→ 选 FET(场效应管)
│ │
│ ├── 需要可正可负的 u_GS?→ 耗尽型 MOS
│ ├── 需要天生截止、正电压开启?→ 增强型 MOS
│ └── 对器件耐用性要求高?→ JFET(但注意不能正偏)
│
└── 对放大倍数要求高、成本敏感?→ 选 BJT 三极管