从半导体视角理解 NVM 与 Flash:存储单元、阵列架构与应用差异

在芯片设计、嵌入式系统以及存储器选型过程中,经常会遇到 NVM(Non-Volatile Memory) 、Flash Memory 、EEPROM 、NOR/NAND Flash 等概念。

从系统工程角度看,它们都是用于掉电保存数据的存储介质;但从半导体器件角度看,它们在:

  • 存储单元结构(Memory Cell)
  • 电荷存储机制
  • 阵列组织方式
  • 编程/擦除方式
  • 工艺兼容性
  • 可靠性指标

方面存在明显区别。

本文从芯片和半导体角度分析 NVM 与 Flash 的关系。


1. NVM 的定义:一种存储器类别,而不是具体器件

NVM 全称:

Non-Volatile Memory(非易失性存储器)

其定义是:

在没有电源供应的情况下,仍能够保持内部存储状态的半导体存储器。

与之对应的是易失性存储器:

类型 代表器件 掉电数据
Volatile Memory SRAM、DRAM 丢失
Non-Volatile Memory Flash、EEPROM、MRAM 保留

从半导体分类看:

目前商业市场中:

  • 大容量存储:NAND Flash 占主导
  • MCU 固件:NOR Flash 占主导
  • 高性能嵌入式 NVM:MRAM、ReRAM 等持续发展

2. Flash Memory 的核心:浮栅晶体管

Flash 本质上是一种基于 MOSFET 的电荷存储器。

传统 Flash Cell 结构:

复制代码
        Control Gate
             |
     -----------------
     |               |
     | Floating Gate |
     |               |
     -----------------
        Oxide Layer

Source -------- Channel -------- Drain

数据存储机制

Flash 通过控制浮栅中的电子数量改变晶体管阈值电压:

  • Floating Gate 无电子:

    • Vt 较低
  • Floating Gate 存储电子:

    • Vt 升高

读取时:

通过检测 MOS 管导通状态判断逻辑状态。


3. Flash 的 Program / Erase 机制

3.1 编程(Program)

Flash 写入通常采用:

Fowler-Nordheim Tunneling

利用高电场使电子穿过氧化层:

复制代码
Control Gate
      +
      |
      |
  Electron tunneling
      |
Floating Gate
      -

特点:

  • 低功耗
  • 可批量操作
  • 速度较慢

3.2 擦除(Erase)

擦除过程:

电子从 Floating Gate 移除。

通常:

  • NAND:

    • Block Erase
  • NOR:

    • Sector Erase

因此 Flash 具有:

写入按 Page,擦除按 Block 的特点。


4. NAND Flash 与 NOR Flash 的芯片架构区别

4.1 NOR Flash

NOR Cell:

特点:

  • Cell 与 Bit Line 直接连接
  • 支持随机读取
  • 类似 Memory Map

结构:

复制代码
CPU
 |
Bus
 |
NOR Flash Array
 |
Memory Cell

优势:

  • Read latency 低
  • Execute In Place(XIP)

应用:

  • MCU Boot Code
  • BIOS
  • Firmware

4.2 NAND Flash

NAND 将多个 Cell 串联:

复制代码
Cell
 |
Cell
 |
Cell
 |
Cell

形成:

  • String
  • Page
  • Block

架构:

复制代码
NAND Array

Block
 |
 +-- Page
      |
      +-- Memory Cell

特点:

  • 高密度
  • 单位面积成本低
  • 适合海量数据

应用:

  • SSD
  • eMMC
  • UFS
  • SD Card

5. Flash 与其他 NVM 技术对比

技术 存储机制 优势 劣势
NAND Flash 电荷 高密度、低成本 写寿命有限
NOR Flash 电荷 随机读取快 密度低
EEPROM 电荷 字节级写入 容量小
MRAM 磁阻 高耐久、高速度 成本高
ReRAM 电阻变化 结构简单 工艺成熟度
PCM 相变 高密度 功耗问题

6. Flash 的关键可靠性指标

硬件设计中,需要关注:

1. Endurance(擦写寿命)

例如:

  • NOR Flash:

    • 10⁴~10⁶ 次
  • NAND Flash:

    • 数百到数万 P/E Cycle

2. Retention(数据保持)

表示:

断电后数据保持时间。

典型:

  • 工业级:

    • 10 年以上

3. ECC(错误校正)

随着 NAND 工艺缩小:

  • Cell 电压窗口变小
  • Bit Error Rate 增加

因此 NAND 必须使用:

  • BCH ECC
  • LDPC ECC

SSD 控制器通常包含:

复制代码
NAND Flash

      |
      |
ECC Engine

      |
      |
Controller

7. NVMe 与 NVM 的关系

很多工程师容易混淆:

NVM

表示:

存储介质类别

NVMe

表示:

访问存储器的高速协议

典型 NVMe SSD:

所以:

NVMe SSD 的存储介质仍然主要是 NAND Flash。


8. 总结:工程师如何理解 NVM 与 Flash

从芯片设计角度:

NVM 是存储技术类别,Flash 是其中最成熟、商业化程度最高的一种实现。

关系:

复制代码
NVM
 |
 +-- Flash
 |     |
 |     +-- NAND Flash
 |     |
 |     +-- NOR Flash
 |
 +-- MRAM
 |
 +-- ReRAM
 |
 +-- PCM

工程应用选择:

场景 推荐技术
MCU启动代码 NOR Flash
SSD存储 NAND Flash
高可靠嵌入式 MRAM
大容量数据 NAND
Cache级非易失存储 新型NVM
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