PY32F系列MCU在OTA时App区概率性跑不起来的根因分析（3）

接前一篇文章：PY32F系列MCU在OTA时App区概率性跑不起来的根因分析（2）

二、问题分析

3. 最终定位

上一回笔者沿着排查方向

（4）整个过程都没有问题，跳转出现了问题

1）烧录后跳转到App出了问题；

2）不经过烧录过程，直接跳转到App就出问题；

3）Boot或App自身存在问题。

不断改进方案、测试。

但即使笔者已经用了最强手段，问题依旧存在，只是概率上有所降低而已。这就说明也许之前的方向可能就错了，问题可能并不是烧录后跳转才出现，而是启动跳转就会出现。

碰巧在排查问题的过程中，有一天下午在天使用户家里复现了问题。那天并未进行OTA，而是直接一上电MCU程序直接跑飞了（通过指示灯和一般性功能判断）。这就辅证了问题确实不是OTA导致的，而是正常启动过程，由Boot区跳转到App区就存在问题。

还记得之前首先就排除了这种可能（参见PY32F系列MCU在OTA时App区概率性跑不起来的根因分析（1）-CSDN博客），

现在看来，之前的判断有误，正常启动时从Boot跳转到App就会存在问题。那么，问题究竟出在哪里呢？这次范围缩小了，锁定到了APP_Bootloader_Go这个函数。

APP_Bootloader_Go函数代码如下：

cpp 复制代码

typedef  void (*pFunction)(void);
void APP_Bootloader_Go(uint32_t dwAddr)
{
	uint32_t JumpAddress;
	pFunction Jump_To_Application;

	__disable_irq();

	APP_DeInitInterface();

	if (((*(__IO uint32_t*)dwAddr) & 0x2FFC0000 ) == 0x20000000)
	{
		/* Jump to user application */
		JumpAddress = *(__IO uint32_t*) (dwAddr + 4);
		Jump_To_Application = (pFunction) JumpAddress;
		/* Initialize user application's Stack Pointer */
		__set_MSP(*(__IO uint32_t*) dwAddr);
		Jump_To_Application();
	}
}

而普冉官方给出的OTA例程的APP_Bootloader_Go函数代码如下：

cpp 复制代码

typedef  void (*pFunction)(void);
void APP_Bootloader_Go(uint32_t dwAddr)
{
  uint32_t JumpAddress;
  pFunction Jump_To_Application;
  
  CLEAR_BIT(RCC->CFGR, RCC_CFGR_SW);
  while (0 != READ_BIT(RCC->CFGR, RCC_CFGR_SWS));
  
  CLEAR_BIT(RCC->CR, RCC_CR_PLLON);

  if (((*(__IO uint32_t*)dwAddr) & 0x2FFC0000 ) == 0x20000000)
  {
    /* Jump to user application */
    JumpAddress = *(__IO uint32_t*) (dwAddr + 4);
    Jump_To_Application = (pFunction) JumpAddress;
    /* Initialize user application's Stack Pointer */
    __set_MSP(*(__IO uint32_t*) dwAddr);
    Jump_To_Application();
  }
}

看起来两个代码差不多，后半段代码完全一致，只是官方例程的代码中多了两段CLEAR_BIT相关代码，而笔者代码中多了APP_DeInitInterface函数。

但实际上笔者工程代码中的APP_DeInitInterface函数已经有了这两段代码。而官方例程将APP_DeInitInterface函数放到了APP_Bootloader_Go函数外边。

cpp 复制代码

/**
 * @brief  This function is used to jump to the user application.
 * @retval An ErrorStatus enumeration value:
 *          - SUCCESS: Go operation done
 *          - ERROR:   Go operation failed or the value of address is not ok
 */
ErrorStatus APP_Go(void)
{
  uint8_t ucMemArea;
  uint32_t dwAddr;

  ucMemArea = GetAddressArea(&dwAddr);
  if ((ucMemArea != FLASH_AREA) && (ucMemArea != RAM_AREA))
  {
    return ERROR;
  }
  
  APP_DeInitInterface();

  APP_Bootloader_Go(dwAddr);

  return SUCCESS;
}

因此，笔者工程代码和官方例程代码基本上一致了。而官方例程普冉的技术支持已经明确说了是非常成熟的方案，已经经过了N多公司的量产考验。

这样看来，问题是出在了细节的差异上。还需要仔细进行差异比对。具体细节请看下回。