基于多模态大模型的工业质检系统:从AOI到“零样本“缺陷识别的产线实践摘要:传统AOI视觉检测在新产品上线时漏检率高达23%,且无法识别训练集外的未知缺陷。我用Qwen2-VL+SAM+YuNet+AnomalyDB搭建了一套工业质检系统:用视觉大模型做Few-shot缺陷分类,SAM做像素级分割,图数据库存储缺陷模式,最终实现"零样本"检测新品缺陷。上线后,漏检率从23%降至0.8%,新品导入周期从2周缩短至4小时,单条产线年检成本降低170万。核心创新是将缺陷模式转化为视觉问答任务,让LLM学会"看图找茬"。附完整产线部署代码和SPC统计对接方案,单台4090可支撑6条