3070文件格式--6--board文件格式详解 6
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禁用信息（预处理）
禁用信息指定board上零件、引脚或节点在单个测试或一组测试中的调节或禁用。调节和禁用一般称为预处理。预处理将引脚、节点或零件设置为某个特定状态，并保持在该状态，以最小化其对被测零件的影响。
有关预处理的更多信息，请参见数字测试中的矢量控制语言（VCL）。
预处理信息在 DISABLING INFORMATION 区块中列出。
语法
condition nodes <node list> on <node library> for <device list>
condition pins <pin list> on <pin library> for <device list>
condition device <library> for <device list>
disable nodes <node list> on <node library> for <device list>
disable pins <pin list> on <pin library> for <device list>
disable device <library> for <device list>
set <node-id> to <state> for <device list>
set <node-id> to <state> family <family-id> for <device list>语句的顺序指定了操作执行的顺序。例如，请参阅以下语句的顺序：
disable device U1 for U3
disable device U2 for U3
disable device U4 for U3禁用将首先对 U1 进行，然后是 U2，最后禁用 U4，以测试零件 U3。
如果要添加 DISABLING INFORMATION 区块，必须将其放置在board文件的最后一个区块中，在 END 语句之前。DISABLING INFORMATION 区块使用在 DEVICES、NODES 和 CONNECTIONS 区块中列出的先前定义。
预处理语句在以下部分中描述。
- 零件节点预处理
- 零件引脚预处理
- board级零件预处理
- 单个节点的board级预处理
零件节点预处理
您可以指定禁用或调节一个节点或面向节点零件的节点列表。每个节点的预处理信息在零件的测试中定义。
语法
condition nodes <node list> on <node library> for <device list>
disable nodes <node list> on <node library> for <device list>
<node list> 可以是：<node-id>
<node-id>, <node-id>
<node-id>, <node-id>, ... <node-id>
<device list> 可以是：
ALL
ALL BUT <device>, <device>, ... <device>
<device>
<device>, <device>
<device>, <device>, ... <device>
<node-id>, <device>, <node library> 是 <字符串常量>示例
disable nodes lda on custom_dev
condition nodes out1, out2, out3 on U1 for U2, U3
disable nodes "out1" on "U1" for U5, U6表 1-30
零件节点预处理选项
| 选项 | 描述 |
|---|---|
| 待测零件将进行预处理的节点库中的节点。 | |
| 待测数字零件，需要预处理以进行测试。 | |
| ALL | 所有已测试零件都需要预处理。 |
| ALL BUT | 除列表中列出的零件外，所有已测试零件都需要预处理。 |
| 定义为节点库的数字零件。此零件将为待测零件进行预处理。 |
零件引脚预处理
您可以指定禁用或调节一个引脚或面向引脚零件的引脚列表。每个引脚的预处理信息在零件的测试中定义。
语法
condition pins <pin list> on <pin library> for <device list>
disable pins <pin list> on <pin library> for <device list>
<pin list> 可以是：<pin-id>
<pin-id>, <pin-id>
<pin-id>, <pin-id>, ... <pin-id>
<device list> 可以是：
ALL
ALL BUT <device>, <device>, ... <device>
<device>
<device>, <device>
<device>, <device>, ... <device>
<pin-id>, <device>, <pin library> 是 <字符串常量>示例
disable pins 1,9 on custom_dev
condition pins 1,2,3 on U1 for U2, U3
disable pins "1", "2" on "U1" for U5, U6表 1-31
零件引脚预处理选项
| 选项 | 描述 |
|---|---|
| 指定将在待测零件上进行预处理的一引脚库引脚。 | |
| 这是一个需要预处理以进行测试的待测数字零件。 | |
| ALL | 所有已测试零件都需要预处理。 |
| ALL BUT | 除列表中列出的零件外，所有已测试零件都需要预处理。 |
| 已定义为引脚库的数字零件。此零件将为待测零件进行预处理。 |
board级零件预处理
您可以指定禁用或调节board上任意位置的整个零件，以对待测零件进行预处理。预处理信息在零件的测试中定义。
语法
condition device <library> for <device list>
disable device <library> for <device list>
<device list> 可以是：
ALL
ALL BUT <device>, <device>, ... <device>
<device>
<device>, <device>
<device>, <device>, ... <device>
<device> 和 <library> 是 <字符串常量>示例
disable device U1 for U2, U3
condition device U5 for U2
disable device "U1" for "U2", "U3"表 1-32
board级零件预处理选项
| 选项 | 描述 |
|---|---|
| 待测零件需要预处理以进行测试。 | |
| ALL | 所有已测试零件都需要预处理。 |
| ALL BUT | 除列表中列出的零件外，所有已测试零件都需要预处理。 |
| 已定义为引脚库或节点库的数字零件。此零件将为待测零件进行预处理。 |
board级单个节点的预处理
您可以将board上任意位置的特定节点设置为待测零件的指定状态。
语法
set <node-id> to <state> for <device list>
set <node-id> to <state> family <family-id> for <device list>
<device list> 可以是：
ALL
ALL BUT <device>, <device>, ... <device>
<device>
<device>, <device>
<device>, <device>, ... <device>
<family-id> 和 <device> 是 <字符串常量>
<state> 可以是： 1
0
T示例
set "en_out" to "1" family TTL for U1, U2, U3
set en_out to 0 for U4
set "LGB" family CMOS to T for U5, U6表 1-33
board级单个节点预处理选项
| 选项 | 描述 |
|---|---|
| 指定一个board上的节点，该节点将为待测零件进行预处理。 | |
| 节点将被设置的状态。T 表示切换节点的状态。 | |
| ALL | 所有已测试的零件都需要节点的预处理。 |
| ALL BUT | 除列出的零件外，所有已测试零件都需要预处理。 |
| 与节点相关的逻辑家族的名称。 |
边界扫描链
本节列出了边界扫描链。要使本节出现在board文件中，您需要列出board对象文件（board.o）。
语法
BOUNDARY SCAN CHAINS
<name of chain>
<tap signal list>
DEVICES
<device list>;
<device list> 可以是：<device>
<device>, <device>
<device>, <device>, ... <device>示例
BOUNDARY SCAN CHAIN
u1_u4
TDI C_TDI
TDO C_TDO
TCK C_TCK
TMS C_TMS
DEVICES
u1, u2, u3, u4;结束
关键词 End 标记了board文件、引脚映射表和器件选项的结束。它没有参数。如果在 End 关键词后还有更多命令，系统会忽略它们。
Example 1-2
Sample board file
HEADING
"This is an example of an In-Circuit Test System BCF syntax";
GLOBAL OPTIONS
Fixture Type EXPRESS;
Fixture Size BANK2;
Top Probes Allowed OFF;
Heavy Probe Force 8;
Light Probe Force 4;
Mechanical Density Threshold 800;
Vacuum Density Threshold 104;
Autofile 2395;
Test Strategy COMBINATIONAL;
WireWrapping AUTO;
Metric Units OFF;
Common Lead Resistance 0.1; !(ohms) from probe to component.
Common Lead Inductance 1u; !(Henries) from probe to component.
Capacitance Compensation ON;
IPG Digital Resistance Threshold 50;
!(ohms)
Preconditioning Levels 2;
Additional Board Voltage 20;
Boundary Scan Overdrive OFF;
Boundary Scan Disable ON;
Boundary Scan Chain Override ON;
DEVICE OPTIONS
Tolerance Multiplier 5.0;
Remote Sensing ON;
Fuse Threshold 3.0;
Diode Current 1m;
Zener Current .5m;
Adjust ACCURATE;
Upstream Disable ON;
Upstream Condition OFF;
END
FAMILY OPTIONS
TTL
Drive High 3.5;
Drive Low 0.2;
Receive High 2.0;
Receive Low 0.8;
Edge Speed 275;
Open Input Default X;
Load NONE;
FIXED NODE OPTIONS
gnd Family ttl is 0;
vcc1 Family ttl is 1;
gnd GROUND;
vcc1 Supply 1 At 5 Volts, 0.5 Amps;
GPRELAY OPTIONS
GP "U102‑7", "gnd";
CONTROL; ACCESS;
LIBRARY OPTIONS
custom_lib
/standard/library/ttl
/standard/library/cmos;
CARD OPTIONS
TTL
HYBRID;
UNCONNECTED PIN NC;
CAPACITOR
C101 2.2u 10 10 f "C101 failed";
OVERRIDE Tolerance Multiplier 1.0;
C102 10u 10 10 f "C102 failed";
OVERRIDE Tolerance Multiplier 1.0;
CONNECTOR
CONN101 NT "Ground connector";
DIODE
LED101 800m 300m "Monitors output pulses";
JUMPER
J101 Closed "Jumper 101 failed";
NODE LIBRARY
pulse_width NS "Measure pulse width of the output signal";
PIN LIBRARY
U101 PN"74ls02" "quad NOR gate";
U102 PN"ne555" "P101 must be centered";
POTENTIOMETER
P101 50k 10 10 "Clock Frequency Adjust";
RESISTOR
R101 10k 5 5 f "Time constant for one‑shot";
R102 2.2k 5 5 f;
R103 1k 5 5 f;
OVERRIDE Remote Sensing On;
R104 10k 10 10 f "Reference for timer";
OVERRIDE Tolerance Multiplier 1.0;
R105 47 5 5 f "Pull-up";
SWITCH
S101 1 2 "Clock signal switch";
TRANSISTOR
Q101 100 40 n "2n4401";
NODES
VCC1 "Main Power Bus";
GND "Ground";
PIN_MAP
CAPACITOR
P 1
N 2;
DIODE
1 A
2 C;
POTENTIOMETER
3 W;
TRANSISTOR
1 E
2 B
3 C;
END
CONNECTIONS
"c101‑2"
C101.2
R101.2
U101.5
U101.6;
clock1
S101.1
U102.3;
gnd
C102.2
CONN101.1
CONN101.2
CONN101.3
CONN101.4
CONN101.5
CONN101.6
CONN101.7
CONN101.8
Q101.E
U101.7
U102.1;
input1
S101.2
U101.3;
"led101‑c"
J101.2
LED101.C;
output1
J101.1
Q101.C
R103.2;
"r102‑2"
Q101.B
R102.2;
"r105‑2"
LED101.A
R105.2;
"u101‑1"
C101.1
U101.1;
"u101‑4"
R102.1
U101.2
U101.4;
"u102‑2"
C102.1
P101.W
U102.2
U102.6;
"u102‑7"
P101.1
R104.2
U102.7;
vcc1
R101.1
R103.1
R104.1
R105.1
U101.14
U102.4
U102.8;
NC
U101.8
U101.9
U101.10
U101.11
U101.12
U101.13
U102.5
P101.2;
DEVICES
C101
1."u101‑1"
2."c101‑2";
C102
1."u102‑2"
2.gnd;
CONN101
1.gnd
2.gnd
3.gnd
4.gnd
5.gnd
6.gnd
7.gnd
8.gnd;
LED101
A."r105‑2"
C."led101‑c";
J101
1.output1
2."led101‑c";
U101
1."u101‑1"
2."u101‑4"
3.input1
4."u101‑4"
5."c101‑2"
6."c101‑2"
7.gnd
8.NC
9.NC
10.NC
11.NC
12.NC
13.NC
14.vcc1;
U102
1.gnd
2."u102‑2"
3.clock1
4.vcc1
5.NC
6."u102‑2"
7."u102‑7"
8.vcc1;
P101
1."u102‑7"
2.NC
W."u102‑2";
R101
1.vcc1
2."c101‑2";
R102
1."u101‑4"
2."r102‑2";
R103
1.vcc1
2.output1;
R104
1.vcc1
2."u102‑7";
R105
1.vcc1
2."r105‑2";
S101
1.clock1
2.input1;
Q101
B."r102‑2"
C.output1
E.gnd;
CRITICAL PINS
s101.1
q101.C;
DISABLING INFORMATION
SET "u101‑1" TO 1 FOR ALL;
SET "u101‑4" TO 0 FAMILY TTL FOR u102;
CONDITION PINS 2,4,5 ON u101 for ALL;
DISABLE DEVICE u102 for u101;
BOUNDARY SCAN CHAINS
u1_u4
TDI C_TDI
TDO C_TDO
TCK C_TCK
TMS C_TMS
DEVICES
u1, u2, u3, u4;
EN