4.10.3 Transition ATPG Using Stuck-At ATPG
一个transition fault可以被模拟为两个stuck-at faults，比如说一个上升沿是从0到1，那么检测的stuck-at faults就是在第一个时间检测fault a/1，第二个时间检测fault a/0。
4.10.4 Transition ATPG Using Stuck-At Vectors
下图例子中的pattern：
V2和V3被用了很多次，一个理想的方法是，把重复的序列只存一次，如果重复用的话再去调用，但是出书时测试机还没有这样的功能，那么就退而求其次，只有两个挨着的重复的向量可以这么去操作：那么这个序列就成了{V1，V2∗，V3∗，V4，V3，V5，V1，V3}，原来的8个向量只需要存8个就够了。但是重复的向量的相关信息存在了测试机的control memory中，虽然测试机存储空间变小了，但是多用的control memory需要额外花钱。
因此有一个更好的办法处理上述问题。考虑向量{V1，V2，V3，V4，V1，V3，V5}，transition test patterns就可以是（V1，V2）、（V2，V3）、（V3，V4）、（V4，V1）、（V1，V3）、（V3，V5），这个pattern集包含了上面图片的所有pattern，多了一个（V4，V1），这个例子说明了用7个向量而不是之前的10个就足够实现transition tests，这样的pattern链就叫做transition test chains。
4.10.4.1 Transition Test Chains via Weighted Transition Graph
因为transition faults和stuck-at faults很接近，所以可以从stuck-at test sets中构建出transition test sets。
重构测试集的算法就叫做weighted transition graph algorithm，用到的图就是weighted transition-pattern graph，下面的算法16就是算法运行的过程：
用下表举例：
表中的数据来自于一个由5个门组成的电路，里面包含10个stuck-at faults，一个stuck-at fault的测试集包含V1、V2、V3、V4，他们对应的excitation和detection都展示在了表格中。假设向量的顺序是{V1，V2，V3，V4}，那么10个transition faults中就只有3个能检测到了（这个不需要知道怎么来的，当一个已知条件）：
- c slow-to-fall
- e slow-to-fall
- c slow-to-rise
但是当利用到表格中的没有构建的向量时，能检测出来一些额外的transition faults（不会看）：
- （V1，V3）：a slow-to-fall
- （V3，V1）：a slow-to-rise
- （V1，V4）：d slow-to-fall
- （V4，V2）：d slow-to-rise
- （V4，V1）：a slow-to-rise、b slow-to-fall
- （V2，V4）：b slow-to-rise、e slow-to-rise、d slow-to-fall
对应的weighted transition graph见下图：
优化weighted transition graph的算法如下面的算法17：
这个算法背后的逻辑是这样的：
- 首先挑一个测试序列，长度为3，能覆盖大多数的faults，例如图4.54a中的（V2，V4，V1）
- 遍历完上面那个序列之后，5个transition faults就能被检测到了，这个图就变成了b
- 经历1和2之后，表4.16中的所有故障都可以用测试集{V2，V4，V1，V3，V4，V2}检测到了
4.10.5 Bridging Fault ATPG
bridging faults一般发生在挨得很近的信号线上，比如两条线为x和y，当x和y上放的值不同的时候，才能检测到这个故障，常用的bridging fault models入戏如下：
- AND bridge
- OR bridge
- x DOM y bridge：x dominates y
- x DOM1 y bridge：x dominates y if x = 1
- x DOM0 y bridge
下图就分别展示了这5种桥接类型：
还有一种叫做feedback bridging fault ，否则就叫non-feedback bridging fault。拿下图举个例子：
如果abc = 110，那么无故障的电路结果是z = 0，如果这个bridge是AND，那么就会形成一个圈，因为会让a = 0，这样z就会是1，但是因为a最初给的是1，所以电路会努力让z = 0，但是又会让a =0，就这样形成一个死循环。
桥接故障和constrained stuck-at ATPG很像，所以可以用它的ATPG修正后给桥接故障检测用。