存储宝典第3篇：存储芯片中test mode是什么意思？

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存储芯片中test mode是什么意思？

测试模式的核心机制是通过设置特定的隔离引脚为隔离状态，使存储器裸片（NAND Flash）与控制器裸片（Controller）电隔离。这样外部测试设备就可以通过专门的测试引脚直接控制和测试NAND闪存，绕过内部控制器。

测试模式的主要目的包括：

直接访问NAND闪存组件，便于识别单个有故障的NAND存储器组件

执行迭代测试，包括写入测试数据样式、读回数据并进行比较

在工厂测试中验证非易失性存储器的可靠性