下面会给出两个例子说明信号如何从WIR中生成并且控制WBR和WBCs的操作的。
例子10.1，如下图：
这个例子是一个WIR接口到core的WBY, WBR, WDRs, and CDRs的示例，就介绍了一下连接方式？
例子10.2如下图所示：
展示的是WBC WC_SD2_CIO的原理图，它对应的泡泡图是10.26b。
- Mode信号：是由WIR生成的用于确定cell运行在正常模式下还是测试模式下
- IO_FACE信号：也是WIR生成的，用来确定core是面向外还是面向内的配置
上面这两个信号都属于WBR_Cntrl信号，因为他们都是为WBCs生成的。
SHIFT , CAPTURE , and XFER三个信号都是由ShiftWR, CaptureWR, and TransferDR三个信号发展而来的，决定了哪个事件要被执行。
D1 and D2 flip-flops分别对应靠近CTI和CTO的两个存储单元，像10.26b所示。这一段的尾部讲了整个操作的过程，用到的时候再看。
10.4.4 Instruction Set
IEEE 1500标准有着比1149.1更丰富的指令集，因为许多指令都有额外的并行选项，这一节会描述所有1500-2005的指令，下面是这些指令要执行的命名公约：
- W<S/P/H><Command>{<Configuration>}：写得非常通俗易懂，看原文就行。下面会借助下图更详细地描述这些指令：
- WS_BYPASS（图a）：强制指令，这个指令用于bypass测试信息并且使能wrapper的正常功能配置，WSI--WSO中间只有WBY允许数据快速移动
- WS_EXTEST（图b）：强制指令，这个指令可以用单一个scan chain的配置测试core-to-core之间的连接和off-chip user-defined logic (UDL)。在Shift操作的时候，WSI和WSO之间只有WBR，描述了一遍这个操作，其实类似于1149.1的EXTEST指令
- WP_EXTEST（图c）：可选指令，这个指令用于用多scan chain配置测试core-to-core互联和off-chip UDL。WBR可以被分成多段（multiple scan chains），测试数据可以通过多个WPI--WBR--WPO在WPC的控制下加载进WBR，与WS_EXTEST唯一不同就是这个指令的并行属性
- Wx_EXTEST：意思就是指令格式中的x可以被S或者P或者H代替，分别代表了EXTEST的不同模式
- WS_SAFE（图d）：可选指令，让core integrator将wrapper置于一个static and safe状态。WBR的功能输出硬件连接到一个常数
- WS_PRELOAD（图e）：强制指令，其实它的用法也类似于1149.1的PRELOAD
- WP_PRELOAD（图f）：可选指令，这个指令其实比WS_PRELOAD更好用，因为它的并行特性，传输数据会更快
- WS_CLAMP（图g）：可选指令，core得到这个指令可以进入到一个quiet模式(e.g., reset or clock off)
- WS_INTEST_RING（图h）：可选指令，WSI和WSO中间只有WBR，而且处于inward facing mode，测试向量可以施加在core上并且测试结果能被WBR capture到
- WS_INTEST_SCAN（图i）：和WS_INTEST_RING唯一不同就是core内的scan chain可以和WBR连接形成一个单个的scan chain，它比WS_INTEST_RING指令更加深入core并且提供更高的测试覆盖率
- Wx_INTEST：同样的x也能选择INTEST的模式，S\P\H